客户 正在使用 BQ76942测试 OCC (过流充电功能)。
当 OCC 发生时、CHG FET 将闭合、但放电 FET 将继续导通。
充电器被移除。 PACK+电压将保持高于 BAT+。
因为 DSG 引脚电压会通过 DISCHG FET GS 10M 电阻泄漏到 PACK+。
因此、PACK+电压将保持高电压状态 、如果 PACK+和 PACK-中没有负载、它将不会从 OCC 恢复。
有什么好的解决方案吗?
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客户 正在使用 BQ76942测试 OCC (过流充电功能)。
当 OCC 发生时、CHG FET 将闭合、但放电 FET 将继续导通。
充电器被移除。 PACK+电压将保持高于 BAT+。
因为 DSG 引脚电压会通过 DISCHG FET GS 10M 电阻泄漏到 PACK+。
因此、PACK+电压将保持高电压状态 、如果 PACK+和 PACK-中没有负载、它将不会从 OCC 恢复。
有什么好的解决方案吗?
您好、MAX、客户正在其板上使用10M。
这个问题非常常见。 因为我们可以从硬件设计角度对此进行解释。
DSG 引脚电压= Bat 电压+ 10V。
DSG→10M 电阻器→放电 FET (处于半导通状态)→充电 FET (MΩ,处于关断状态)。
在此电源路径中、PACK+引脚电压绝对高于电池。
您可以问 Terry 或 Arelis 有关此问题的问题吗? 我想之前也有类似的问题。
我们有否建议?
尊敬的 Fabio:
我想我明白你现在的意思了。 当 DSG FET 导通且 PACK+悬空时、通过 DSG FET 的 GS 电阻器的少量漏电流会将 PACK+拉至 BAT 电压以上。
但 OCC 保护有两种恢复方法(请参阅下文)。
此致、
马克斯·韦博肯