[参考译文] TLV733P-Q1：EIPD 导致 LDO 功能故障、需要 LDO 裸片内部布局和功能块进行进一步调查

尊敬的 Stanley：

以下是根据 TI 在应用相关 EOS 损坏方面的经验为客户提供的最终建议列表。

遗憾的是、由于这是一个独特的故障、因此更难追查到一个共同的原因。 我们将监控该器件、以在将来是否收到该客户的退货。

应用参数

• 在运行条件和测试条件下执行应用系统的测量：
• 确认应用符合数据表中的所有绝对最大额定值和建议运行条件(包括电压、电流、时序和温度测量值)；
• 确认应用中每个器件的电源定序数据表要求已得到满足；
• 确认应用中每个器件的数据表斜升速率要求已得到遵守；
• 确认电路板上的节点在预期电压下运行；
  • 具体而言、确认要处于相同电位的节点对处于相同电位；
• 确认电源线和信号线没有过量噪音；
• 确认电源线和信号线没有电压尖峰(正或负)。

测试流程

• 避免热开关：
  • 仅在电源关闭时连接/断开被测电路板；
  • 在断开被测电路板之前、确保旁路电容器完全放电；
  • 确保继电器和开关仅在电源完全关闭时连接/断开；
  • 避免两次测试之间出现热切换：
    • 请勿在电源已连接或处于开启状态时更改电压值或电流范围；
    • 在开始下一次测试之前、请勿在测试之间关闭电源、否则需要留出足够的时间让电容器放电；
    • 请勿使用不同高度的弹簧加载触点、这可能会导致连接到任何顺序未定的带电电源。
  • 包括电压/电流钳位、以防止数据表冲突。
  • 管理测试程序：
    • 遵循测试计划/程序的书面发布流程；
    • 发布前的审计测试计划/程序；
    • 将测试程序/程序保持在修订控制之下。

测试设备

• 防止测试连接不良、错位和旋转：
• 确认存在机械保护措施以防止测试过程中意外断开；
• 使用只允许单向定向的连接器。
• 确保设备充分接地；
• 确保电源经过充分调节/过滤；
• 遵守诊断、维护和校准的定期计划；
• 确保测试设备满足测试和安全要求；
• ＊适当敷设及屏蔽所有电能来源；
• 屏蔽受测板免受机械危险的影响。

装配流程

• 防止组件连接不良、错位和旋转
• 使用 X 射线和/或光学检测设备；
• 在丝印上放置标记、以显示正确的器件极性/方向；
• 使用只允许单向定向的连接器。

系统设计

• 将电气滤波器尽可能靠近需要保护的器件放置；
• 选择并放置旁路电容器以优化电源性能并避免不必要的谐振；
• 使用适合于设计的经过良好调节的电源；
• 使用具有过压保护的电源；
• 确保电压/电流源能够承受初始浪涌电流；
• 确保设计符合所有数据表值、包括电源定序和斜升速率要求；
• 如果系统设计用于热插拔应用(例如 USB)、则确保设计能够承受热插拔的副作用、例如浪涌电流和电压骤降；
• 最大限度地降低电源连接中的电感、从而最大限度地减少辐射发射和传导发射；
• 设计电源电路以防止反向电流；
• 通过使用适当的钳位器件更大限度地减少过冲和下冲；
• 避免输出驱动器之间的争用；
• 避免悬空输入、即使对于未使用的引脚也是如此(例如、通过使用上拉/下拉电阻器)；
• 在板之间选择适当的连接器；
• 确保适当的散热；
• 尽可能均匀地分布总电路板阻抗；
• 确保电力线路能够提供足够的电流；
• 确保传输线路和负载之间的阻抗匹配；
• 避免接地回路；
• 在信号路径上使用接地屏蔽、以最大程度地降低串扰影响；
• 最大程度地减小单独接地平面之间的阻抗；
• 在软件中查看临界情况、并消除未定义的情况；
• 在软件中包括错误处理例程。

谢谢。
大卫·皮尔庞特

我们已联系到有关 EOS 区域布局功能的设计、请联系您的现场工程师以了解详细信息。