This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] LM74670-Q1:LM74670的问题

Guru**** 1989775 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1263597/lm74670-q1-question-of-lm74670

器件型号:LM74670-Q1

尊敬的团队:

我们在新设计中使用 LM74670、但 MOS 会损坏。 (Q10或 Q18)

请查看原理图和波形、并指导我们如何解决该问题。 谢谢!

交流输入:16-24VAC

MOS: MTE050N10KRV8

1.第一个问题是 MOS 被烧了。 实际上、电流峰值没有那么大。 我想知道什么其他原因可能导致宇宙异常。

2. 第二个问题是电流的反向是否是个问题,因为 EVM 板也看到过,可能是正常的,对吗?


非常感谢。

吉米

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jimmy:

    MTE050N10KRV8是一个额定电  压为100V 的 FET、因此、对于16-24Vac 交流输入、应不会由于在其漏极-源极上施加过压而发生任何故障。 FET 的 Vgs 额定值也足够高。

    只要 FET 的电压变得非常低而得到增强、反向电流就不会成为问题。

    我能想到的唯一概率是超出 FET SOA 范围。 可以测量施加到 FET 的栅源电压并共享波形捕获。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、GD、

    我们感谢您的大力支持。 请参阅以下内容:

    已经测量过该波形、跟随 Vgs 关闭、然后电流返回到0、请确认这是否为正常现象(图2)?

    非常感谢。

    吉米

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jimmy:

    让我回顾一下并在明天与您联系。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、GD、

    感谢您的大力支持。

    我添加了一些新的波形供您参考。

    这是测得的 MOS Vgs 和电流的波形。 可以看出在关断 MOS 之前电流会反向一段时间、如下所示:

    非常感谢。

    吉米

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Jimmy、感谢分享其它波形。 让我来检查一下、然后给您回复。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、GD、  

    谢谢! 如果您对此有任何建议、请告诉我。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jimmy:

    在 FET 关断之前、流经 FET 的电流应在短时间内反向。 这不是问题,因为 FET 完全打开,它将允许双向电流没有任何问题.

    在下面的波形中、我可以看到 Vgs 信号偶尔下降到负值、这是意料之外的。 CH4测量中是否增加了任何偏移?

    FET Vgs 预计如下所示、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、GD、

    感谢您的快速支持。

    根据数据表、为电荷泵电容器充电时 Vgs 为负。

    我展示的波形是以下几点所对应的时间。

    (来自 tidt194)

    非常感谢。

    吉米

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jimmy:

    波形看起来很好、我认为 FET 没有损坏的任何原因。

    如果您知道 FET 损坏的确切测试条件、找出根本原因可能会有所帮助。 是可重复条件吗? 您是否具有 FET 发生故障时的波形捕获?