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[参考译文] BQ79616-Q1：VC0引脚损坏

admin
Guru**** 2604225 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ79616, BQ79616-Q1

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1257195/bq79616-q1-vc0-pin-damage

器件型号：BQ79616-Q1
主题中讨论的其他器件：BQ79616、

我们似乎遇到过几个情况、其中 BQ79616中最低的电池读数偏低、从而导致电池单元不平衡。  有时它是堆栈中的底部 BQ 芯片、有时不是。  我已经搁置一个板、VC0引脚拉电流、串联 R 下降了30mV。  我测量了其他几个电路板、"R72" 仅下降约0.4mV 且没有拉电流。  更换板解决了电池组中的问题。  在此特定失败案例中、这是堆栈中的第三个 BQ。  我认为 BQ79616-Q1在某种程度上受到了损坏。  TI 是否发现 VC0引脚拉电流存在此问题？   

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    TI__Guru**** 2604225 points
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    您好、James：

    我需要和我的同事多谈这件事。 EOD、8/9 (CST)将为您提供答案。

    此致、

    朱莉娅·路易斯

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    TI__Guru**** 2604225 points
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    您好、James：

    据我所知、我还没有听说过其他客户有类似的问题。 您能否提供布局示意图并详细描述您的设置？ 可能存在接地问题(或其他问题)、因此这些信息可以帮助我们更好地解决您的担忧。

    此致、

    朱莉娅·路易斯

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    TI__Guru**** 2604225 points
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    电流理论和实验观察结果是、当自动平衡奇数/偶数时、由于电路延迟而开启/关闭的外部 FET 重叠存在、从而产生一个电压路径、产生可损坏芯片的尖峰。  然后超过 CB00至 VSS 限值(尖峰为~10V)。   在自动平衡期间、内部 FET 开关是否有最小/最大时间？   

    TI 之前已批准早期版本的原理图。  我可以再次提供、但只能通过安全方式提供。  

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    TI__Guru**** 2604225 points
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    您好、James：  

    我会多谘询同事。 我将由 EOD 8月22日、CST 作更明确的答复。

    此致、

    朱莉娅·路易斯

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    TI__Guru**** 2604225 points
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    您好、James：

    我将关闭该主题、并通过电子邮件继续本次讨论。

    此致、

    朱莉娅·路易斯