[参考译文] BQ35100：INITCOMP

Kagawa 您好、

INITCOMP 只能与初始启动有关。 在电量监测计激活并初始化后、该位应保持设置状态。

正常运行期间是否看到 INITCOMP 位在切换？

此致、

怀亚特·凯勒

尊敬的 Wyatt-san：

INITCOMP = H 后、有一个定时、在1.2s 后 GE 变为高电平、然后在1s 后 INITCOMP 变为低电平。 生殖率很低、但有时会发生。
这种情况有什么可能的原因吗？

此致、
香川市

Kagawa 您好、

 此行为的发生率是多少？ 该位应复位的唯一时间是在某些类型的复位事件期间。 当该位被清零时、系统中到底发生了什么情况(命令也是)？

此致、

怀亚特·凯勒

尊敬的 Wyatt-san：

通过创建一个程序来测量波形、在启动后的头10s 内以100ms 的间隔检查 INITCOMP=H。
成功波形(图1)需要稍长的时间来返回 ACK、而故障波形(图2)更短、响应值为00。

1.以下现象的原因估计是什么?

图1成功的波形(INITCOM = H)



图2故障波形(INITCOMP = L)


2.回答您的问题
> 当该位被清除时、系统中到底发生了什么情况(命令也是)？
-->
室温下的发生率约为1%、这非常低。 启动时的波形可识别出未发生复位。 命令如上所示。

此致、
香川市

您好、Kagawa-San、

最好在发生这种情况时复位电量监测计、以便它重新初始化。 初始化过程中似乎出现了故障、或者电量监测计可能具有某种类型的瞬时欠压、这会导致电量监测计重新初始化。

此致、

怀亚特·凯勒

尊敬的 Wyatt-san：

我知道上一个线程中的图2是使用 icer 静音时的波形、因此在这些条件下需要重置和重新初始化。
(在这些情况下、未发生可测量的欠压水平。)

图3显示了正常温度环境(24°C 室温)下的测量结果、相同现象以100ms 为单位出现(不超过该值)。
(即使在图3所示的条件下、也不存在可测量的欠压水平。)
如果可能、我们希望通过重试而不进行复位来初始化库仑计数器。
(由于设备限制、每次发生欠压时都很难复位。)
此外、是否疑似 IC 故障？

上一个线程中的图2显示了使用 ICER 资质时的波形、因此我知道在这些条件下有必要复位并重新初始化 IC。
(在这些情况下、未发生可测量的欠压水平。)

图3显示了正常温度环境(24°C 室温)下的测量结果、相同现象以100ms 为单位出现(不超过该值)。
(即使在图3所示的条件下、也不存在可测量的欠压水平。)

如果可能、我们希望通过重试而不进行复位来初始化库仑计数器。
(由于设备限制、每次发生欠压时都很难复位。)

此外、是否疑似 IC 故障？

图3

TP：当 INITCOMP ="H"时输出"H"；当 INITCOMP ="L"时输出保持为"L"。

此致、
香川市

您好、Kagawa-San、

我需要进一步研究这个问题，明天我会作出回应。

此致、

怀亚特·凯勒

尊敬的 Wyatt-san：

客户说：
我已多次重写 FW 并再次进行检查、但结果与上次相同且未发生变化。

客户是否应请求 IC 分析？

此致、
香川市

您好、Kagawa-San、

我认为从 TI 的 IC 分析中找到任何内容的可能性很小、代码会显示此位的确切行为。 事件时序可能会差、从而导致发生某种类型的复位。 这可能源于欠压、I2C 通信过快导致 WDT 复位等。 1%的测量仪表会发生这种情况、并且仅在1%的测量仪表出现故障时可重现。

此致、

怀亚特·凯勒