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[参考译文] BQ25895:在过热时即使存在 VBUS、电池也会放电

Guru**** 1831610 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25895
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1243871/bq25895-battery-discharge-even-though-vbus-present-when-over-temperature

器件型号:BQ25895

我在一款便携式产品上使用 BQ25895已有几年了。   以前、USB 仅用于在关闭产品电源的情况下为产品充电。   现在、我们希望产品在连接 VBUS 的情况下全天候运行、但我遇到的问题是内部温度超过电池充电温度、 当发生这种情况时、即使 VBUS (5V)仍然存在、也需要从电池上取电(这使得电池变得更热)。  我本来希望电池在温度高于上限时不充电、但也希望电源直接从 VBUS 连接、而不是从电池连接。 我是否有办法将其配置为在高于温度时不为电池充电、而且只从 VBUS 取电、而不是从电池取电

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Paul、  

    当您提到内部温度与电池充电温度时、您是否指的是热调节/热关断特性?  

    该器件旨在通过 TS 引脚和 NTC 监控 IC 的内部结温、并监控电池温度。 TS 电阻器网络可配置为在电池温度过高或过低时暂停电池充电。 这种保护功能独立于 IC 的热调节。  

    在您的情况下、可能发生的情况是 IC 正在进入热调节状态、可以通过读取 REG0E 位7状态来确认这一点、但 TS 引脚温度仍在正常范围内。 为了强制电池不放电、您可以设置 BATFET_DIS = 1 (REG09位5)以关闭 BAT 引脚和 SYS 引脚之间的 BATFET。  

    此致、

    加勒特  

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    感谢您的答复。  我本应该更清楚一点的。  我能看到的唯一温度来自电池上的热敏电阻。  整体而言,产品在运行和充电时内部温度升高的程度更高,尤其是在环境温度较高的情况下。

    当单元在现场时、我能够转储寄存器数据。  我也试图在我的桌子上重复这个问题,但我的结果是不同的--实际上,它们和预期一样,只有电池充电停止,VBUS 直接传递到输出。  现在,我感到困惑。   坐在我的桌子上,加热装置就像我预期的那样——电池停止充电,但也不会放电。   

    下面是现场和我办公桌前的两个寄存器在几乎相同的条件下的对比情况。  感谢任何见解。

    字段(电池放电、但 VBUS 存在)

    00:7F 05 30 3a 37 11 6a 8d 03 40 87 e6 02 14 00 00
    10:00 99 00 3f 39 off ff ff 关关关关关关关 FF

    桌面(应用 VBUS 时的电池静音充放电或放电)

    00:7F 05 30 3a 37 11 6a 8d 03 40 87 e6 02 13 3b 3b 3b
    10:53 98 00 3f 3a ff ff ff ff 关关关关关关关 FF

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    您好、Paul、  

    我已经查看了寄存器数据。 请查看我的评论如下。  

    以下是有关 TS 热故障的预期器件运行的说明。 如果在充电期间热敏电阻温度超过 TS HOT 阈值、则充电暂停、VBUS 将为 SYS 负载供电。 请注意、在此 TS 高温状态下(如 REG0C 位[2]= 010b 所示)、必要时允许电池放电。 例如、如果 SYS LOAD 需要的电流大于 IINDPM 设置允许的电流或 VBUS 可以提供的电流。 如果移除 VBUS、也允许电池对 SYS 放电。  

    在升压模式下、TS HOT 阈值与充电期间的 TS HOT 阈值相比更高。 如果在升压模式下发生 TS 热故障、则停止升压运行并强制 Q4 BATFET 关断、以防止电池放电。 我提到了升压操作、因为您的 REG0B 数据表明器件处于 OTG 升压模式。

    如果您希望防止在 TS HOT 状态下电池放电、我建议您对器件进行编程、以便在读取 NTC_FAULT = TS HOT 时将 BATFET_DIS 设置为1 (REG09位5)。  

    负载的电流消耗或在升压模式与充电模式下触发 TS HOT 故障可能会解释现场测试和实验室测试之间的行为差异。  

    此致、

    加勒特