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器件型号：TPS65131-Q1 主题中讨论的其他器件： TPS65150-Q1
您好！
客户询问 TPS65131-Q1和 TPS65150-Q1器件是否通过了以下 AEC-Q100认证测试项目？ 还是仅通过了一些测试项目？
两个器件的 D/S 均显示"符合 AEC-Q100标准"是根据 TI 的内部测试结果确定的？ 还是由外部公司进行验证？
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标准 |
详细信息 |
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AEC-Q100标准 |
基于故障机制的集成电路应力测试认证(基础文档) |
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AEC-Q100-001 |
键合抗剪测试 |
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AEC-Q100-002 |
人体放电模型(HBM)静电放电测试 |
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AEC-Q100-003 |
机器模型(mm)静电放电测试 |
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AEC-Q100-004 |
IC 闩锁测试 |
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AEC-Q100-005 |
非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保持和运行寿命测试 |
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AEC-Q100-006 |
热电效应引起的寄生栅极泄漏电流测试。 |
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AEC-Q100-007 |
故障仿真和测试分级 |
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AEC-Q100-008 |
生命周期故障率（ELFR） |
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AEC-Q100-009 |
配电评估 |
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AEC-Q100-010 |
焊球剪切测试 |
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AEC-Q100-011 |
组件充电模式(CDM)静电放电测试 |
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AEC-Q100-012 |
12V 系统智能电源器件的短路可靠性特征 |
