您好！
我的客户正在使用 PTPS6594141BRWERQ1 和 LP876441B1RQKRQ1 用作 DRA821U 的 PMIC 电源器件。
他们遇到了 DRA821U 处理器在低温环境测试期间停止工作的问题。
他们发现一些 PMIC 没有功率输出。
1.预制产品是否可能不符合工作温度条件?
2.使用上述两款 PMIC 器件时、是否存在过低温条件下出现的问题(预制产品和量产产品混用等)？
3.上述 PMIC 在温度条件下是否有任何保护措施？
谢谢你。
JH
Michael、您好！
感谢您的答复。
无法检查寄存器值、因为 DRA821U 在发生故障时不会运行。
以下是发生低温故障时 PMIC 的输出测量值。
这种症状的原因可能是什么？
此致、
JH
通过测量结果以及查看此 PMIC 对的用户指南(https://www.ti.com/lit/pdf/slvuby7)、我认为 PMIC 的一个 SOC 电源轨出现了故障。 PMIC 已禁用分配给 SOC 电源轨组的电源轨、但将 MCU 电源轨保持启用状态。
您能否确认初级 PMIC 的 GPIO11 (nRSTOUT_SoC)为低电平而 nRSTOUT 为高电平？
令人奇怪的是、次级 PMIC 的 BUCK1测量值为0.741V。 该电源轨可能是导致故障的原因。 在发生故障的电路板发生部分关断后、该测量时间是多长？ 电压是否缓慢降至零？
Michael、您好！
根据您的指南、客户进行了如下调试。
1.他们将两个电路板的 LP8764从器件 PMIC 的 Buck1的电感从220nH 更改为440nH、并进行了低温测试、到目前为止未发生任何问题。
2.当他们在附加电路板上测试与#1相同时,在低温下出现了问题。 但与以前不同的是、eMMC 发生了故障。
3.客户电路板使用磁珠作为连接到 Buck1的电源输入端子、如下所示。 在之前的低温测试中、它们将磁珠更改为 o 欧姆、但对低温误差没有影响。
4.当电路板上出现#2 eMMC 故障的#3磁珠额外更改为0欧姆时,未发生 eMMC 故障。
q1)您能否解释一下使用220nH 和使用440nH 之间的区别？
Q2)低温误差是否与纹波噪声有关？ 使用磁珠时、纹波噪声似乎增大。
以下是您以上问题的答案。
-不使用 GPIO11且 nRSTOUT 为高电平
-它不是降到零。
谢谢你。
JH
