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①What 寿命试验失败的根本原因是什么? (__LW_AT__晶圆加工厂的增加是否产生了影响?)
此外、8D 可用意味着什么?
②How Lite 测试失败了几个小时吗?
③Lite 测试一直持续到1753小时。
您没有在1000小时停止测试并运行测试直至1753小时的原因是、出现了1次故障?
④Please 从统计学和技术角度解释为什么进行 PCN 是可以的,即使结果是1个故障。
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①What 寿命试验失败的根本原因是什么? (__LW_AT__晶圆加工厂的增加是否产生了影响?)
此外、8D 可用意味着什么?
②How Lite 测试失败了几个小时吗?
③Lite 测试一直持续到1753小时。
您没有在1000小时停止测试并运行测试直至1753小时的原因是、出现了1次故障?
④Please 从统计学和技术角度解释为什么进行 PCN 是可以的,即使结果是1个故障。
尊敬的 Shunsuke-san:
很抱歉耽误你的时间。 请参阅中的响应 大胆 请关注以下问题:
(1)额外的晶圆制造厂 CFAB 是否位于中国成都?
答案:是
(2)新的检验厂 CD-PR 位于中国何处?
答案:是
(3)寿命试验中1个测试失败的问题(Ta=TMA,1753 125°C 小时,3/267/1)。
①What 寿命试验失败的根本原因是什么? (__LW_AT__晶圆加工厂的增加是否产生了影响?)
回答:TI 电气测试和物理故障分析属性此 EIPD 故障源于单粒子电气瞬变或 HTOL 应力扩展期间的冲击。
此外、8D 可用意味着什么?
答案:8D 是一个报告、其中包含为找到 HTOL 故障的根本原因而执行的分析。
②How Lite 测试失败了几个小时吗?
答案:单个装置故障发生在1753小时。 实时监测。
③Lite 测试一直持续到1753小时。
您没有在1000小时停止测试并运行测试直至1753小时的原因是、出现了1次故障?
回答:这是实时监测、因此部件通过了1000小时的测试、未出现任何问题、测试继续到首次故障。
④Please 从统计学和技术角度解释为什么进行 PCN 是可以的,即使结果是1个故障。
回答:部件通过了1000小时要求之外的鉴定。
希望这一点得到澄清、我们可以关闭该主题。
此致、
友好