[参考译文] TPS54240：PCN#20231222000.1

尊敬的 Shunsuke-san：

很抱歉耽误你的时间。  请参阅中的响应 大胆 请关注以下问题：

(1)额外的晶圆制造厂 CFAB 是否位于中国成都？

答案：是

(2)新的检验厂 CD－PR 位于中国何处？

答案：是

(3)寿命试验中1个测试失败的问题(Ta=TMA,1753 125°C 小时,3/267/1)。

①What 寿命试验失败的根本原因是什么? (__LW_AT__晶圆加工厂的增加是否产生了影响？）

回答：TI 电气测试和物理故障分析属性此 EIPD 故障源于单粒子电气瞬变或 HTOL 应力扩展期间的冲击。

此外、8D 可用意味着什么？

答案：8D 是一个报告、其中包含为找到 HTOL 故障的根本原因而执行的分析。

②How Lite 测试失败了几个小时吗？

答案：单个装置故障发生在1753小时。 实时监测。

③Lite 测试一直持续到1753小时。

您没有在1000小时停止测试并运行测试直至1753小时的原因是、出现了1次故障？

回答：这是实时监测、因此部件通过了1000小时的测试、未出现任何问题、测试继续到首次故障。

④Please 从统计学和技术角度解释为什么进行 PCN 是可以的,即使结果是1个故障。

回答：部件通过了1000小时要求之外的鉴定。

希望这一点得到澄清、我们可以关闭该主题。

此致、

友好