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[参考译文] BQ25798:稳定性问题-输出电容最大值

Guru**** 2378650 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25798, BQ25798EVM
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1337117/bq25798-stability-issues---max-values-of-output-capacitance

器件型号:BQ25798

大家好、我们使用 BQ25798使用 12V HVDCP 为3节锂离子电池组充电。 IC 适用于1uH 电感、1A 充电限制和1.5 MHz 开关频率。 我们确实注意到、 当 功率级从降压 操作切换到升压操作后充电结束(Uusb ~11.6V 、Ubat = 12.45V、Ibatt <0.3A)、在正向模式下禁用 PFM 可解决该问题。 问题是 出现在 BQ25798EVM 中。 这可能是由于 PMID 和 SYS 上使用的 MLCC 电容器太高导致环路运行不稳定所致吗? 如果是、是否有最大建议值?

BQ25798EVM:

  • PMID:3x10uF (C2012X5R1E106K125AB)= 3x1.67uF@12.5V = 5 μ F @12.5V + 33 μ F 钽  
  • SYS:5x10uF (C2012X5R1E106K125AB)= 5x1.67uF@12.5V = 8.35 μ F @12.5V
  • BATT:2x10uF (GRT188R61E106ME13D)= 2x1.5uF@12.5V = 3 μ F @12.5V

我们的电路板

  • PMID:3x22 μ F (C3225X7R1E226M250AB)= 3x14.8uF@12.5V =  44.4 μ F @12.5V
  • SYS: 3x22 μ F (C3225X7R1E226M250AB)= 3x14.8uF@12.5V =  44.4 μ F @12.5V
  • BATT: 2x22uF (C3225X7R1E226M250AB)= 2x14.8uF@12.5V =  29.6 μ F @12.5V  

此外、 当使用2.2uH 电感器和1.5MHz 时、我们的电路板在降压模式下也存在类似的问题

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    尊敬的 Tomasz:

    这里没有最大电容、因此应增加电容来解决问题。  您是否遵循数据表和 EVM 上的建议布局?  是按如下所示放置在 PMID 和 SYS 上的0.1uF 去耦/旁路电容器:

    在升压模式下、开关噪声更差、因此预计 ADC 测量值会更差。  因此、我们不规定 ADC 电压和电流精度。

    此致、

    杰夫

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    我在为 PCB 打补丁、使 100nF C1和 C2  尽可能靠近 BQ25798、并解决了 问题。 有趣的是、C3、C7和 C6芯片的距离影响不 大。 其中可能有一个(C1或 C2)至关重要。