主题中讨论的其他器件:TPS709、、 LP2951
我在生产设计中使用 LP2951CSD/NOPB。 我们会收到许多退货、其中 LP2951CSD/NOPB 发生故障。
输入电压为22V、输出电压设置为18V。 当发生故障时、电压通常不会上升到~4V 以上。
在正常运行期间、电流负载为~μ A 30mA。 但是、在 ATP 期间、我们为输出加载90欧姆、电流限制输出并测量约14.4V、这是基于数据表中的电流限制160mA -200mA 的预期结果。 我们知道数据表中的状态" LDO 并不是用于在稳态电流限制条件下 "。 这是否有可能损坏器件并产生潜在故障? 此测试期间的功率损耗为(22V-14.4V)*(14.4V / 90 Ω)~= 1.2W。 数据表中的理想 JA 热阻抗为43.3 K/W。 但是、对于论坛中的其他对话、这是理想情况、基于布局可能会更糟糕。
我们的布局具有大约2倍于裸片尺寸的焊盘和两个大型散热过孔、而不是许多小型散热过孔。 电路板有超过12层。 底层不是覆铜。 根据 AN-1187的图14和16 (4x4主体)、热阻抗范围为43.3 K/W 到~180K/W。 根据我们的布局、我们的结至环境热阻抗大概是多少?
在此测试过程中、通过将热电偶安装在封装顶部、我们测量到温度比环境空气温度上升大约20C。
该器件要么完全失效、要么间歇性失效、通常是在加电时处于-40°C 左右的低温下。
工作时、启动电压如下(达到18V 而不是20V)
当它不工作时、它会卡在5V 左右并不断拉80mA、输入电压仍为22V。
我们有以下问题:
1.) 在接受测试期间将稳压器置于电流限制模式会损坏稳压器
2.) 基于我们布局的大致热阻抗是多少、
3.) 稳压器在低温(-40C)条件下会发生故障而不在高温条件下发生故障、有什么原因吗?