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器件型号：BQ76952 您好！
我们使用 BQ76952 IC 和 STM32微控制器设计了 BMS。 我们测试了 COV、CUV、OCC、OCD 和温度限值、BMS 正确切断。 但是、当我们进行短路测试时、每次仅烧毁 MCU。 更换 MCU 后、电路板工作正常、并且上述所有测试均成功。 我们使用了12个 MOSFET (高达263封装)、6个用于充电、6个用于放电。 并将 SCD 延迟设置为15us。 我假设这是由短路测试期间的一些电压尖峰引起的。 请您告诉我、除了电压尖峰之外、导致此损坏的所有可能原因是什么。 此外、执行短路测试前是否应进行任何必要的检查？
