[参考译文] UCC28950：UCC28950问题

您好！

您的查询已收到、正在审核中。

此致、  

您好！

RABSET 公式中似乎存在一个拼写错误、给出了错误的值。  感谢您指出这一点。  它将在数据表的下一个修订版本中进行更新。

您还提到、当 Adel 接地短路时、您的预期延迟比您计算出的要长。  您是否在 UCC28950的输出上对此进行了验证？  由于您正在使用的驱动器和/或栅极驱动变压器、可能会出现延迟。

此致、

UCC28950问题。

您好！

感谢您与我们联系。

我理解 RABSET 表达式中的拼写错误。

如果是、请告诉我正确的公式。

在之前的应用中有一条声明：如果 ADEL 对地短路、则 KA = 0、我在计算时将 KA = 0。  这仍然有效吗？ 如果无效、请告诉我正确的方法。

关于死区时间测量的问题、我正在检查 UCC28950输出端子的波形。

通过 UCC28950的输出确认了这一点、因此不包括由所用驱动器 IC 引起的延迟。

此外，我还没有收到我上次问的以下问题④和⑤的答复，因此请也回答这些问题。

④How 我们应该假设该 IC 本身在死区时间方面有很大的变化？

⑤I 希望获得有关 IC 变化、 温度波动引起的变化 和老化恶化的信息。

我们的时间已经过了，因此，我们感谢您的合作，尽快作出回应。

此致、

您好！

您在备注中突出显示了高亮度的内容。  请见下方。

"例如、假设 RAB = 15 kΩ、CS = 1V 且 KA = 0.5。 在这种情况下、可以看到 TABSET 大约为90ns。 但在实际计算公式3时、TABSET = 82.4ns、这是不匹配的。"

数据表中的下表显示了温度范围内延迟的精度。

此致、

UCC28950问题。

您好！

我收到了有关此 IC 针对温度变化的精度的信息。
非常感谢。
可以认为此信息还包括 IC 本身的变化标准吗？
此外,我们应该如何看待老龄化恶化?

此外,关于 RABSET 公式,在应用程序中有一个拼写错误,我们还没有收到正确公式的答案。
目前、计算无法开始、也无法确认计算值是否与实际值匹配。
这个问题是最重要的。

由于时间紧迫、我们感谢您的及时响应。

此致、

您好！

您的查询正在审查中、我会很快回复您。

此致、

您好！

这些器件参数记录在数据表中。  我不确定您能解释变体标准的含义是什么？

关于器件的老化、以下链接提供的信息应该有助于回答这些问题。   

https://www.ti.com/support-quality/faqs/product-shelf-life-faqs.html?keyMatch=SHELF%20LIFE

RABSET 中的拼写错误位于答案而非计算中。  因此、您应该能够使用此计算。  您已经验证过、但实际情况略有不同。  我曾要求您直接在输出中查看以便进行澄清。  如果你没有时间,这是可以的。

对于设计本身、您需要对 ZVS 的时序进行微调。  这是因为很难精确地估算开关节点电容。  我建议在10%负载下加载设计、然后将延迟设置为谷底开关。

此致、