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[参考译文] LM5177:实验问题

Guru**** 2536980 points
Other Parts Discussed in Thread: LM5177

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1224295/lm5177-experimental-issue

器件型号:LM5177

您好、TI 团队、

我在 LM5177上有问题。
基于我们的设计,测试条件如下:
Vin = 52V、Vout = 56V、Iout = 11A、
FS = 300kHz、L = 3.3uH、PSM 已启用。

在我看来、它在升压模式下运行、降压上层器件的 MOSFET"Q1"已永久开启、但我们发现 Q1随机关闭、继而导致电感器电流急剧下降。

CH1:升压下臂 MOSFET 的 VDS、CH2:COMP、
CH3:Vout (具有50V 偏移)、CH4:电感器电流
(我们已经测试了 Q1的 VGS、但没有显示在图片上。)

您对此问题有何看法?
谢谢。

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    尊敬的 Marshall:

    感谢您使用 E2E 论坛。

    您能告诉我您拥有的是哪个器件版本- LM5177上的标记。

    此致、

     斯特凡

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    Stefan、您好、

    我认为这是一个新版本、LM5177上标记了"31KG4 CK78"、并且我有关于 LM5177的另一个误区、如下所示:

    当转换器以旧版本"28kG4 CT3R"在稳定状态下运行时、Comp 和电感器电流随机振荡。
    这种异常情况通过更改旧版本(28kG4 CT3R)为新的"31KG4 CK78"消失了,问题是否完全解决,即使我将 SI MOSFET 更改为 GaN FET(高 dv/dt )?

    现在、我有另一个基于 EPC GaN 的设计、但软启动机制和开关状态会出现一些异常情况。

    软启动发生如下所示的剧烈振荡:
    它是否与前面提到的类似?

    CH1:COMP、CH2:升压下臂 MOSFET 的 VDS、
    CH3:Vout、CH4:电感器电流

    异常开关状态如下所示:
    RT/CT 设置为300kHz、但在升压模式下、它在电感器电上的开关频率高于300kHz、我们发现开关噪声反映在 Comp 引脚上。 "你怎么知道的?

    CH1:COMP、CH2:降压上臂 MOSFET 的 VDS、
    CH3:Vout、CH4:电感器电流

    谢谢此致。

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    尊敬的 Marshall:

    您提到的第一点 是由于 PSM 模式下可能发生的错误峰值检测。 在 RTM 器件中、该函数将被禁用、以避免此行为。

    关于第二个问题、它看起来像是对一些控制信号的串扰、尤其是 COMP 引脚应在稳定状态下保持稳定、而且在上电期间、COMP 引脚看起来也不正常。

    对于启动、您还可以探测 ATRK/SS 引脚。  

    您的薪酬如何 ?

    此致、

     斯特凡

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    Stefan、您好、

    如何在 PSM 模式下避免错误的峰值检测?
    R C 的电流滤波器参数为20 Ω+ 1nF。
    我们已经测试了降压和升压模式、异常状态仅在升压模式下发生。

    COMP 引脚上的噪声仅出现在 GaN FET 上、但没有 SI MOSFET
    SI MOSFET 的测试结果如下:

    CH1:无、CH2:COMP、
    CH3:Vout、CH4:电感器电流

    SS/ATRK 引脚时的启动波形如下所示:

    CH1:电感器电流、CH2:SS/ATRK、
    CH3:Vout、CH4:无

    这里是我们的补偿电路。

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    尊敬的 Marshall:

    为了确保正确理解它:

    -最后一封电子邮件的第一个图表是通过 SI MOSFET 完成的

    -第二次(启动)还是使用 GaN 或 SI MOSFET 完成?

    您是否有适用于 GaN 和 SI MOSFET 的两个不同 PCB、或者您是否有两个具有相同封装的 PCB?

    此致、  

     斯特凡

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    Stefan、您好、

    -最后一封电子邮件的第一个图表是通过 SI MOSFET 完成的

    =>是。

    -第二次(启动)还是使用 GaN 或 SI MOSFET 完成?

    =>两个启动波形是使用 GaN 完成的、两者之间的差别是软启动时间。

    您是否有适用于 GaN 和 SI MOSFET 的两个不同 PCB、或者您是否有两个具有相同封装的 PCB?

    =>两个 PCB 的不同之处在于 GaN 和 SI MOS 之间的封装。

    此致、

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    您好 Marshall:

    我们下周早些时候再见。

    此致

    哈利

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    尊敬的 Marshall:

    感谢您的评分

    我会和设计团队讨论这个问题、1-2天后回来。

    为避免启动时出现高电流峰值、您可以增加软启动时间。

    您是否还可以按照如下所述将额外的滤波器添加到 CSA/CSB (注意:即将此信息添加到数据表中刚刚开始)
    特别是 C (COMMx)

    请告诉我、这是否有助于通过 GaN FET 改善此行为

    此致、

     斯特凡

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    Stefan、您好、

    我看不到你提供的图片,但我们被告知如下。 这和你的一样吗?

    不过、我们再次使用 CM 滤波器测试启动情况(CCOM = 100pF)、在 SI-MOSFET 版本下有一些改进、但在 GaN 版本下无法正常运行

    开关频率很奇怪、这与我们的原始设置不同(310kHz 更改为150kHz)。

    顺便说一下、 我们发现了一个在更改 CS 引脚上的 CM 滤波器之前测试的新问题、如下所示

    开关频率在稳定状态下会随机变为更高的频率。 是否 像 您之前提到的那样存在错误的峰值检测问题?

    测试条件:

    Vin = 36V、Vout = 52V、Iout = 13A、RT/CT = 310kHz、SI-MOSFET  

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    尊敬的 Marshall:

    不知道为什么这张图片没有显示,但这是相同的信息你有.

    串联电阻 RDIFF1/2的阻值均应为100 Ω。

    然后可以使用以下公式计算 C (Diff)

     

    C (Comm1/2)每个应为47pF。

    对于上面的示波器图、您能告诉我通道分配。

    也不妨检查布局。

    此致、

     斯特凡