请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：TPS25940-Q1 我们有一个关于 TPS25940-Q1 eFUSE 锁存版本的问题。
我们 在 eFUSE GND 和全局 GND 之间有一个正常的缓熔保险丝、以在任何内部短路情况下禁用 eFUSE。
但是、我们遇到了一个问题- 当保险丝发生故障且 eFUSE GND 和全局 GND 断开时、eFUSE 的输出保持有效。
FAULT 引脚被拉至本地 eFUSE GND、由于它是开漏输出、因此其 MOSFET 被启用、从而允许内部逻辑继续工作并使输出保持启用状态。
您是否已建议导致此问题的原因、或是否有任何测试建议？
