请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号:TPS22810 我看到延迟时间(请参阅图17) TD 针对~ 130usec 至180usec 的各种输入电压(请参阅第7.6节)以及一组固定的 Cin、Cload、CT。
我们是否有任何有关 TD (延迟时间)如何随 CT 变化的数据?
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
我看到延迟时间(请参阅图17) TD 针对~ 130usec 至180usec 的各种输入电压(请参阅第7.6节)以及一组固定的 Cin、Cload、CT。
我们是否有任何有关 TD (延迟时间)如何随 CT 变化的数据?
Steve、您好!
我们没有 指定 CT 和延迟时间之间关系的特征数据。
我们提供了评估模块、客户可以在其中通过实验观察器件的性能。
这些评估模块可在以下位置订购: https://www.ti.com/tool/TPS22810EVM
此致、
伊丽莎白