大家好、
您能在下面查询一下吗?
客户在将 TPS51200用于 VTT_DDR3时、在 VO 斜升期间观察到大约200mV 的过冲。 我建议遵循 该线程中的解决方案 、但它不起作用。 他们试图将 REFIN 的电容器从 1n 增大到100n、从而避免过冲并解决问题。 我想知道的是、使用100N 的 REFIN 是否安全? 数据表未指定此参数的最大值、但示例应用使用1n。
提前感谢。
此致、
马尔文
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客户在将 TPS51200用于 VTT_DDR3时、在 VO 斜升期间观察到大约200mV 的过冲。 我建议遵循 该线程中的解决方案 、但它不起作用。 他们试图将 REFIN 的电容器从 1n 增大到100n、从而避免过冲并解决问题。 我想知道的是、使用100N 的 REFIN 是否安全? 数据表未指定此参数的最大值、但示例应用使用1n。
提前感谢。
此致、
马尔文
尊敬的 Marvin:
我建议遵循 此线程中的解决方案 ,但它不起作用
Unknown 说:他们试图将 REFIN 的电容器从 1n 增大到100N,从而移除过冲并解决问题。
这是否解决了问题并消除或降低了过冲? 在您的第一项陈述中、您说 不 可以、但在第二条语句中、似乎它起作用了? 我想澄清一下、因为这可能对其他/未来的主题有用。
对于 REFIN、此处可安全使用100nF。 对于这一增加、ESR 将仍然很低、并且应该仍然保持相同的输入时序。
谢谢。
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