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[参考译文] BQ25300：有关简短测试数据的其他问题

admin
Guru**** 2387080 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25300
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1210107/bq25300-additional-question-for-short-test-data

器件型号：BQ25300

请告知我有关下面上一主题的其他问题；

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1181832/bq25300-short-test-data

①Previous 的主题回答"虽然 IC 已损坏、但 FET 未能开路、因此电池不会损坏。"、bq25300能否保证  FET 在出现故障后打开？

②Is 除了 BAT 到 GND 短路、电池放电没有问题？

③When VBUS 至 REGN 短路、它可能会超过 REGN 的最大额定值。

是这样吗？ 请让我确认任何损坏或不再次。

此致、

聪

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    TI__Guru**** 2387080 points
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    Satoshi、

    我们将进行检查并回复给您。

    谢谢。

    宁

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    TI__Guru**** 2387080 points
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    你好，宁

    感谢您的确认、

    我明白了、我期待您的最新动态。

    此致、

    聪

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    TI__Guru**** 2387080 points
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    尊敬的 Satoshi：  

    我们的器件专家 Ning 目前不在办公室。 因此、敬请期待下周早些时候收到有关您的最新咨询。 感谢您的耐心。  

    此致、

    加勒特  

  • 0
    TI__Guru**** 2387080 points
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    大家好、Garrett、Ning

    感谢您的回复。

    我理解你的情况,你的最新消息将在下周发布,这是没有问题的。

    此致、

    聪

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    TI__Guru**** 2387080 points
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    Satoshi、

    1.否

    2.视情况而定

    3.这是可能的。

    谢谢。

    宁