[参考译文] TPS1H000-Q1：为什么引脚7和 PIN8在 PIN7短接至 GND 期间被烧毁

您好、Timothy、

感谢你的

 

 

  

 

评分 测试用例是接地损耗问题和输出接地短路、这是正确的。 了解您提到"当系统中发生多个灾难性故障时、我们无法提供可靠的缓解计划"。 测试用例来自客户要求、他们注意到这种用例可能在他们的生产线期间发生。 现在、客户要求我们提供深入分析、我们在第2页测试期间将会发生什么情况？ IC 中有哪些损坏？ 现在、来自客户的巨大压力...您能向我们介绍更多有关 Inside IC 的详细信息吗？ 或者是否有其他建议来寻找根本原因？ 顺便说一下、我们也弄清楚为什么仍然可以工作、第4页中的 IC 引脚6和直流12V "-"侧为2V。 您能给我们更多的解释吗? 提前感谢！

敬京、

在接地失效问题期间、无论 EN 引脚的状态如何、器件的输出都会关闭。 在这种情况下、如果有大的反向电流从输出端流经 FET 的体二极管并到达电源、则可能发生损坏的唯一方法。 我们没有明确对 FET 的体二极管进行评级、因此、如果这种情况下、您需要在输入端使用阻塞二极管等元件。

我们无法分享器件内部工作的详细示意图、但我们很乐意在数据表中澄清您可能对其有疑问的任何观点。 如果您怀疑存在质量问题、请通过 https://ticsc.service-now.com/csm/?_ticdt=MTY4MDE4NDEzM3wwMTg3MmZiYTk5NDcwMDA0ZTI5MzcwODgyYjRkMDUwNmYwMDhhMDY3MDBmYjh8R0ExLjIuNjAyOTkxNTA1LjE2ODAxMzI5NzE 提交申请。

您能否分享设计原理图？ 此外、由于我们在达拉斯的本地测试并未发现这一点、我请求您在 TPS1H000EVM 上运行此测试。 这将为您的应用测试提供最佳的组件集、理想的布局等。

e2e.ti.com/.../tps1h000-circuit.pdf

您好、 Timothy、

附加是我们在应用中的电路、我也会分享降压电路用于分析。 请帮助提供您的建议。

很遗憾、我们手头没有 EVM 板、我们正在着手进行本地支持的申请、我们在获取后会进行进一步测试。

我们不知道体二极管是否因系统的涌入电流而断开、串联 A 电阻器可以在我们的应用中解决这个问题。 但是客户坚持要求我们 深入分析我们的 page2测试中将发生的情况以及 IC 的细分情况。

敬京、

我们无法提供任何内部器件电路的详细概况、因为这被认为是专有的、但数据表中的方框图应该可以很好地了解系统中发生的情况：

我认为这里发生的情况是、出现在 https://www.ti.com/lit/pdf/slvaes9中所述的寄生路径中的双重故障情况 

听起来此系统中可能存在一些应用变量、如其他寄生路径或焊接/设置问题。 为了确保消除所有变量、请尝试与本地 TI 团队合作获取 EVM、以便可以使用已知良好的设置进行测试。

您好、Timothy、

如今、根本原因是：上电期间系统浪涌电流过大。 在移除板上的一些电容器后、不要烧坏。  

有一点让我们感到困惑：在文件(test setup.pdf)的第4页中、上电期间也存在浪涌电流。 为什么测试中没有烧毁？ 我可以知道您有什么提示吗？

提前感谢！

敬京、

我从图中有一点不清楚-但我怀疑会发生什么情况、那就是流过 FET 的体二极管的电流可能过大。 我们不对 FET 的体二极管进行评级、因此、如果其上耗散了太多功率、这可能会导致损坏。