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[参考译文] BQ27426:SoC 在低温下的跳跃

Guru**** 2538950 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1209321/bq27426-soc-jumps-at-low-temperature

器件型号:BQ27426

我们在0℃的环境下,做了1A电流的持续放电测试,确认RM和SOC的变化值,发现了异常的变化。器

我们在0°C 处以1A 电流进行了持续放电测试、以确认 RM 和 SOC 值的变化并发现了异常变化。

请协助确认下出现如下两种错误情况的原因:

请帮助确认以下两种错误情况的原因:

1.日志1中,1A放电开始后,从0℃上升到6℃时,FCC和RM突然变成了一个异常值,并且持续到了测试结束。器

1.在 log1中、1A 放电开始后、当从0°C 上升到6°C 时、FCC 和 RM 突然变为异常值、并持续到测试结束。

e2e.ti.com/.../log1.csv

2.日志2中,1A放电开始后,在温度是7℃时,FCC,RM,SOC突变为0。

2.在日志2中,当1A 放电开始后温度为7°C 时,FCC、RM 和 SOC 突然变为0。

e2e.ti.com/.../log2.csv

谢谢