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器件型号：TPS546D24A 亲爱的 Nancy。
感谢你的帮助。
我们现在正在寻找间歇性出现的低侧 MOSFET 破损。
如果相应的 DCM 函数重复发生、
也就是说、
如果重复控制，例如操作 ON --> OPERATION OFF -->操作 ON -->操作 OFF 重复，
对 DCM 或 CCM 的特性造成损害的影响进行了调查。
谢谢。
亲爱的 Nancy。
感谢你的帮助。
我们现在正在寻找间歇性出现的低侧 MOSFET 破损。
如果相应的 DCM 函数重复发生、
也就是说、
如果重复控制，例如操作 ON --> OPERATION OFF -->操作 ON -->操作 OFF 重复，
对 DCM 或 CCM 的特性造成损害的影响进行了调查。
谢谢。
