[参考译文] BQ40Z50-R2：BQ40Z50老化和基于硬件的保护

你好、RAN、

这些老化方法可降低充电电压和电流、许多电池研究显示、最大充电电压和高充电电流直接链接会导致电池运行状况恶化。 如果您对这些功能感兴趣、以及创建这些功能的原因、我建议您查看一些有关性能下降的 IEEE 电池分析论文、其中将提供一些示例和说明。 电池大学还提供一些不错的开放式参考设计： https://batteryuniversity.com/article/bu-808b-what-causes-li-ion-to-die

是的、为硬件保护禁用两个 FET。 但是、在固件读取 AFE 寄存器后、一个 FET 将根据触发的保护恢复。

此致、

怀亚特·凯勒