您好、朋友:
当重新测试 IC 的相位裕度时、测试图中的相位增益压降在空载条件下会非常不稳定。 这是一种正常现象吗? 是否会介绍其他问题? 谢谢你。
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您好、朋友:
当重新测试 IC 的相位裕度时、测试图中的相位增益压降在空载条件下会非常不稳定。 这是一种正常现象吗? 是否会介绍其他问题? 谢谢你。
尊敬的 Yuming:
如果要测试此 LDO 的稳定性、则需要使用非侵入式稳定性测量(NISM)、而不是标准波特图测量。 现代 LDO 反馈环路无法从外部断开、因此标准波特图将无法准确测量稳定性。 有关 NIISM 测量的详细信息、请参阅 Picotest 网站。
https://www.picotest.com/measurements/NISM.html
谢谢。
斯蒂芬
尊敬的 Stephen:
我们使用 外部电阻分压器来选择 TPS7B7702-Q1的输出电压。 因此、我们认为 我们可以访问 反馈 环路。 您是否仍然认为使用传统方法评估 LDO 的稳定性不是准确的测量? 电路原理图。
此外、看来我们短期内无法购买 Picotest 探头。 如果只能通过 NISM 来评估 LDO 的稳定性、您是否有当地的实验室资源来为我们提供支持?
B.R.
EVE
尊敬的 Shihui:
正确-即使访问反馈电阻器网络、仍然有未断开的内部电路、因此环路也未按预期完全断开。 在现代 LDO 中、此内部电路通常非常简单、就像带有顶部设定点电阻器的内部并联电容器一样、这样可以提高 LDO 的稳定性。
是的、我们有执行 NISM 的能力。
尊敬的 Yuming:
如果您遵守数据表中列出的输出电容指导原则、那么您应该不需要担心稳定性测试。 通常、直流/直流转换器需要这些测量、因为工程师使用外部元件来设计补偿环路、并且他们必须证明转换器是稳定的。 客户通常仍然希望测试 LDO 稳定性、而对于现代 LDO 而言、NISM 或负载瞬态测试是两种最佳选择。
谢谢。
斯蒂芬