[参考译文] BQ35100：在 EOS 测试过程中无法读取和解释调节的 R 和测量的 Z (值随机变化)

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1366058/bq35100-unable-to-read-and-interpret-scaled-r-and-measured-z-during-eos-testing-procedure-values-are-varying-randomly

您好！

在使用 BQ35100 IC 实施 LS33600电池的 EOS 测试时、我们需要您的帮助。 请详细了解设置及以下问题。

设置-

使用的电池-  LS33600  

我们正在尝试执行 EOS 模式并读取 调节的 R 和测量的 Z 以预测电池寿命。

我们是通过使用微控制器电路板而不是 BQstudio 的裸机代码执行此操作。

此外、微控制器电路板由同一电池供电、该电池的 EOS 值将被读取。

遵循的步骤-

注意-使用 BQstudio 为电池 LS33600设置 ChemID

GE 引脚设置为高电平

2、等待 INITCOMP 位设置为高电平

3.发送电量监测计命令并等待 GA 位设置为高电平

4.解封成功

5.发送新电池命令并等待5秒钟

(Q1 -新电池命令成功的指示是什么？)

在发布新的电池命令后、我们是否需要针对 UNSEALED 和其他 EOS 相关配置重新配置器件？

6.操作配置 A 寄存器设置为 EOS 模式(成功)

7. 发送电量监测计命令并等待 GA 位设置为高电平

8.给定在 BQ35100的 Bat+处将0.8V 下降300ms 的脉冲

9. 发送停止电量监测计命令并等待 G_DONE 位设置为高电平

10.读取缩放的 R 和测量的 Z  

(Q2-如何使用调节的 R 值和测量的 Z 值来计算电池的寿命？)

//此外，当我们在5分钟间隔内读取它们时，这些值是不一致的。 请对此给予启迪。

11.将 GE 引脚设置为低电平并等待6小时

12.将 GE 引脚设置为高电平并等待 INITCOMP 位设置为高电平

13.启动电量计成功

14.解封成功。

现在多次重复第7步中的过程、

概要

Q1 - 新电池命令成功的指示是什么？ (我们是否需要从 DF 读取 R_new 寄存器、或者是否有其他方法？) 在发布新的电池命令后、我们是否需要针对 UNSEALED 和其他 EOS 相关配置重新配置器件？

Q2-如何使用缩放的 R 值和测得的 Z 值来计算电池的寿命？ 是否可以跟踪电池的剩余电量是否为10%、30%、50%和75%？ 为什么按照程序读取时、即使在5分钟间隔内、缩放的 R 值和测量的 Z 值也不一致？ 每次 EOS 测试迭代后、是否需要将 IC 断电？

请提供相同的帮助。

也请查看随附的日志文件。

使用的参考-

如何为 EOS 模式配置 BQ35100 (TI.com)

bq35100技术参考手册(修订版 C)(TI.com)

BQ35100锂原电池电量监测计和充放电结束监测计数据表(修订版 E)(TI.com)

e2e.ti.com/.../0654.log-file.txt

这是运行时捕获的控制台日志。