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[参考译文] BQ35100:测得的阻抗卡在32767m Ω

Guru**** 1624225 points
Other Parts Discussed in Thread: EV2400
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1350163/bq35100-measured-impedance-stuck-at-32767-mohm

器件型号:BQ35100
主题中讨论的其他器件:EV2400

您好!

我进行了加速测试、使电池(SAFT LS14500)在大约15天内耗尽电量。 我注意到、当 EOS 标志被置位时、测得的阻抗值为32767m Ω。 此时我已经停止施加负载脉冲(20 mA)、并让电池休息了一天。 当我重新开始测试时、测得的阻抗已降至非常低的值、但在三次测量中、测得的阻抗已呈指数上升、再次达到32767m Ω 的高电平。 根据 TRM、最大 此寄存器可保存的值为16位、即65535、但在这种情况下、其似乎只有15位。 缩放的 R 值也固定在20381、但这与测量的 Z 值有关、正是这种情况。 我通过将 MCU 读取的值与 EV2400读取的值进行比较来验证该值是否正确。 这里会发生什么情况?

此致、

阿沙雷

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    您好、Ashshare、

    您处于 EOS 模式吗?

    您能否提供有关电池的更多信息? 阻抗与电池化学成分密切相关。

    您正在使用什么 ChemID?

    此致、

    埃文

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    您好、Evan:

    电池型号- SAFT LS14500

    化合物 ID - 0623

    电量监测模式- EOS

    测得的 Z 值和调节的 R 值绘制在附加的图中。 您可以看到它在32767m Ω 处达到饱和。 标记 EOS 后、电量监测计未更新测得的 Z 和调节的 R 值。

    此致、

    阿沙雷

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    您好、Abshare、  

    Evan 目前不在办公室、请预计会延迟回复。  

    此致、  

    Jonny.  

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    您好、Ashshare、

    设置 EOS 标志之前测量的阻抗是多少?

    EOS 标志设置是否符合预期?

    您是否可以共享您的.gg 文件和.log 文件的放电?

    此致、

    埃文

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    您好、Evan:

    按照20%的趋势检测设置标记、这似乎很好。 我将附加日志文件(.xlsx)和.gg (.csv)文件以供您参考。

    /cfs-file/__key/communityserver-discussions-components-files/196/LS14500_5F00_gauge_5F00_params_5F00_after_5F00_test.gg.csv

    /cfs-file/__key/communityserver-discussions-components-files/196/EOS_5F00_Triggered.xlsx

    观察到恒定的 Z 值后、让电池长时间(>48小时)休息并重新开始测试。 最初电池从较低的测量 Z 和相应的缩放 R 值开始、但在2次测量内、它迅速跳至先前观察到的高值、然后在32767m Ω 处针对测量的 Z 再次饱和、这促使我思考内部寄存器是否确实被限制在该数字。 但是根据 TRM、它的长度为16位。

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    您好、Ashshare、

    为了澄清监测计按预期工作、EOS 标志按预期设置。 问题在于、阻抗值在标志设置为较大值后继续升高、但不会对系统造成任何直接问题。  

    如果我理解正确、请留出一些时间来检查代码中允许的最大值是多少。 如果我错了、请更正我的误解。

    此致、

    埃文

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    你是对的。 在设置 EOS 后阻抗值上升、且该值在32767mOhm 处饱和、对于我测试的电池样本不会产生任何问题。 我担心、由于 EOS 标志几乎在测量的 Z 值32767m Ω 时同时被设定、对于一个不同的样本、在较高的 Z 值时、短期趋势值可能会超过长期趋势值(20%)。我担心如果系统无法处理高于32767m Ω 的值、检测过程可能会失败。

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    您好!

    阻抗(measuredZ)的最大值为65535 (16位)。

    只有满足这些条件时、EOS 位才应该翻转。

    此致、

    埃文

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    您好、Evan:

    阻抗(measuredZ)的最大值为65535 (16位)。

    在交叉检查代码中允许的最大值后、您是否已确认此情况?

    [/报价]

    我可以确认满足这一条件。 请参阅以下使用 EV2400读取的趋势平均值屏幕截图:

    但是、我担心的是系统正在读取的测量 Z 值的最大限值降低了。 尽管 EOS 标志是根据趋势平均值设置的、但趋势平均值最终不是从测量的 Z 得出的吗? 我们知道测得的 Z 与温度相关、这意味着 EOS 标志有可能设置为高于32767m Ω 的值。 我的系统和 EV2400目前无法读取高于32767m Ω 的值。 如果是这种情况、有可能在不同的温度下或使用不同的电池样本时、永远不会触发 EOS。 我的疑虑是否有效?

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    您好、Ashshare、

    昨天我很忙、快速扫描了该代码、并认为 measuredZ 被定义为 A16位。 但是、经过今天的详细介绍、我相信您可能是正确的。 我会跟进固件团队以进行澄清和确认。

    此致、

    埃文

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    您好、Ashshare、

    在使用我的固件团队进行验证后、measuredZ 是有符号整数、它仍为16位、但范围为-32767到32767。 我为此问题提出了一个 TT。

    感谢你的帮助。

    此致、

    埃文

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    修复错误后、您是否会更新此主题(以便我收到通知)?

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    您好、Ashshare、

    不存在错误、而只是一个文档错误。 刷新文档时将修复此问题。

    此致、

    埃文

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    它用于将测量的 Z 和调节的 R 值声明为有符号整数? 不管怎样、它们绝不会带来负面影响。 如果我们假设它确实被限制为32767 m Ω、那么我该如何解决我在前一篇文章中强调的这个问题? 我在下面突出显示了它:

    我担心,由于 EOS 标志几乎是在同一时间被设置,当测量的 Z 达到32767 m Ω,有一种可能性,对于不同的样本,短期趋势值可能超过长期趋势值( 20%)在较高的测量 Z.我担心,如果系统不能处理高于32767 m Ω 的值,可能会失败。

    此致、

    阿共享

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    您好、Ashshare、

    请分享一个 EOS 标志设置不正确的日志文件。

    此致、

    埃文

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    您好、Evan:

    我不是说在我进行的测试中、EOS 标志被错误设置。 当测量的阻抗为32767m Ω 时、将设置该值。 我所担心的是、如果我使用同一电池的不同样本、检测到阻抗急剧上升的移动平均滤波器可能会在不同水平的测量阻抗触发(即< 32767m Ω 或> 32767m Ω)、但系统无法检测到大于32767m Ω 的阻抗。 如果是、是否不存在从未设置 EOS 标志的可能性? 例如、在32768m Ω(由于系统限制、无法检测到)的测量阻抗下、短趋势平均值是否超出长趋势平均值20%(EOS 标志设置的条件)?  

    此致、

    阿共享  

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    您好!

    请允许我花点时间来研究这一点。

    谢谢。

    埃文

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    您好!

    我已经通知了 FW 团队、他们将在方便时尽快解决此问题。

    谢谢。

    埃文