[参考译文] TPS543820：断电后的 IC Vin 输入阻抗

我无法重现此问题。  

我使用 DMM (34401A Agilent)在 VIN 到 PGND 测试点在工作台上测量了 TPS543820EVM (未对电路板进行修改)的电阻。  

通电时、DMM 读取'OVLD'、并且在禁用 HP6652工作台电源(方法1通过禁用的输入电源或方法2启用引脚/然后启用输入电源)

时，DMM 显示屏将闪烁并快速更改数字，在(1到2秒)内读数为~100欧姆，并在几秒钟内稳定到93欧姆。  

是否已在 EVM 板或非 ICT 测试设置上验证 TPS543820问题？    我会向一些团队成员征求建议。  

制造测试团队就是一个提请我注意这个问题的团队。  
我已经能够在我们的一个电路板上重现此问题、但我的卡上有多个 POL、因此我无法肯定地说这是 TPS543820。 我没有 EVM。  

今天、我刚刚尝试了将 Vin 与其余 POL 隔离、并在断电并移除外部电源后测量高阻抗。  因此、这可能不是问题。 我需要从制造团队那里获得更多信息。 感谢你的帮助。  

您好、Luc：  

你是否找到了阻抗问题的解决方案、 如果是、我将关闭该主题。   如果您需要帮助、发布后我将帮助您  

尊敬的 David：

不、我还没有解决它的办法。  
更多信息：仅当它们测试 BP5和启动电容器时、Vin 才会出现低阻抗。 这是通过在电容器焊垫上注入一个低电压(2.8V @~2mA)并验证组件是否在那里来完成的。 它们表示首次通过测试、然后对卡编程并通电、再断电并通过 ICT 再次运行、当他们在 TPS543820输入端看到短路时就会发生这种情况。  我在此卡上有两个 TPS 设备、它们的性能相同。  
他们已决定在问题解决之前暂时不要测试这些电容器。  

以下是他们发给我的程序:
-Provider 在 ICT 中插入一张未供电的新卡

-ICT 执行并测试"短"阶段,通过包括 TPS 报告的所有净阻抗测量

-完成并通过 简短测试后,ICT 使用 TI POD 2006对 U30和 U49上的 XML UCD 加载进行编程

-程序完成后 ICT 提供电源电压,以便在负载已编程的情况下为卡加电

-卡上电并运行其余的有源 ICT 测试,测试现在完成,卡从固定装置中取出。

-当您再次将卡放在 ICT 固定装置上,并从开始重新测试时; 现在，当 ICT 执行"短期"阶段时，ICT 报告意外短路，ICT 测试失败

ICT 使用与 xxxx 功能性 PMA 相同的程序、在功能测试中对卡进行编程和测试后确认意外短路与 ICT 相同

您好、Luc：

我尝试使用 TPS543820 EVM 重现行为、但运气不好。   

我在实验室电源和 EVM 之间添加了一个二极管、以便不测量工作台电源的开尔文感应电阻器(100 Ω)。  

我向输入施加12V 电压、器件会进行调节、然后断电、测量输入阻抗、它始终大于100k Ω。   

我采用额外的3V/BP5 10mA 电源、探测 BP5和 BOOT 连接到 SW、并按相反顺序将 Boot 连接到 SW、BP5连接到 GND

当我将电源应用到不同的引脚时、输入阻抗随着仪表的更新而变化、但从不为低电平。  

我是否可以将 EVM 发送给您、以便可以在 EVM 上安装和试验其中一个经过 ICT 测试的器件。   

尊敬的 David：

制造团队会将电路卡和他们发现问题的 ICT 测试设备发送给我。 我希望能够在这张卡上复制他们看到的内容。

我收到卡时会更新您的信息。  

感谢您的更新。