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器件型号:TPS25982 跟进此 主题
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尊敬的 Jared:
造成这种临时闩锁的一个可能原因是输出端出现负瞬态。 如果采样速度较慢、则 UC 可能无法捕捉到它们。 这些瞬变的时间范围可能为微秒级。
- 这个电路板与上一主题是一样的吗?
- 是否有任何特定位置发生故障、或所有不同位置都发生故障?
- 是否有任何特定电路板发生故障或其他电路板发生故障?
- 您是否尝试过添加一些输出电容器? 这将有助于减少瞬态。
- 以前尝试解决此问题的方法有什么好处。 您的同事("Aratrik")是否发现任何有助于解决此问题的方法?
- 15%的故障率(非常高)表示存在一些与应用相关的问题、而不是器件缺陷。 如果您不愿意、可以分享故障 IC 的详细信息(批号)。 我会收到有关该批次是否有任何问题的支票。 此外、您能否共享暂时出现故障的设备的数量。
- 您是否使用我们的 EVM 板尝试过此方法? 您的电路板是否包含可供您探测信号并使用示波器捕捉信号的测试点。
请理解、我提出许多问题是因为这些类型的故障很难重现、否则、我会尝试在工作台上复制。
此致、
阿鲁什
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- 这个电路板与上一主题是一样的吗?
- 这与与上一主题不同的电路板有关。 上一螺纹板(设计"A")仅在-30 * C 或以下出现故障(问题 A),但此板(设计"B")在我们操作时的所有温度下都出现故障(问题 B)。
- 是否有任何特定位置发生故障、或所有不同位置都发生故障?
- 是的,它是一组40的单个负载开关(对于问题 B)
- 是否有任何特定电路板发生故障或其他电路板发生故障?
- 我们已在4个实例中的2个实例上发现故障(针对问题 B)
- 您是否尝试过添加一些输出电容器? 这将有助于减少瞬态。
- 我们在问题 A 和问题 B 中使用负载开关配置制作了测试板。这些负载开关要么既具有输出肖特基、要么具有输出电容、要么只有输出肖特基、要么只有输出电容、要么没有输出电容。
- 我们发现在只使用输出电容器的负载开关上
- 向该矩阵中添加一个肖特基并不能防止这些
- 我们在使用输出肖特基二极管的负载开关上
- 我们还没有(尚未)看到肖特基和 CAP
- 我们还没有(尚未)看到肖特基或 CAP
- 我们发现在只使用输出电容器的负载开关上
- 我们在问题 A 和问题 B 中使用负载开关配置制作了测试板。这些负载开关要么既具有输出肖特基、要么具有输出电容、要么只有输出肖特基、要么只有输出电容、要么没有输出电容。
- 以前尝试解决此问题的方法有什么好处。 您的同事("Aratrik")是否发现任何有助于解决此问题的方法?
- 我们当前的解决方案是简单地更换负载开关、直到问题不再被发现。 (A 版和 B 版)
- 我们发现、对于问题 A、以1秒的间隔循环不会引发故障。 周期会延长。
- 15%的故障率(非常高)表示存在一些与应用相关的问题、而不是器件缺陷。 如果您不愿意、可以分享故障 IC 的详细信息(批号)。 我会收到有关该批次是否有任何问题的支票。 此外、您能否共享暂时出现故障的设备的数量。
- 我们也觉得它与批号无关。 我们使用了很多批次的器件、但尚未发现可观察到的行为差异。
- 在问题 A 中、我们已经看到20块电路板上的负载开关发生了13次故障、每个电路板上都有10个负载开关。 我们从未见过电路板上10个负载开关中的4个负载开关出现过故障。 4个从未出现故障的驱动器用于驱动板载 PCBA 负载、而其他6个用于驱动非板载负载。
- 替换后未跟踪的替换数量失败。 可能占总更换次数的30-50%。
- 对于问题 B、我们已在8个电路板上看到2个负载开关故障、每个电路板上有20个负载开关。 电路板成对使用、仅在特定负载下发生(电路板‘2’的负载开关3、从不电路板‘1’)
- 您是否使用我们的 EVM 板尝试过此方法? 您的电路板是否包含可供您探测信号并使用示波器捕捉信号的测试点。
- 我们删除了发生故障的 IC、并将其焊接到 EVM 板上、我们在那里继续看到故障的发生(问题 A)
- 我们尚未在 EVM 板上使用问题 B
- 我们确实具有用于此目的的测试点
- 其他想法/意见
- 仅观察到问题 B、但从未在实验中成功重现。 通过断开负载的机箱连接与系统的机箱连接的其余部分,可以防止发生这种情况。 负载开关接地连接到电路板外壳处的机箱、
- 机箱开启事件的电流波形
- 机箱开启事件的电流波形
- 仅观察到问题 B、但从未在实验中成功重现。 通过断开负载的机箱连接与系统的机箱连接的其余部分,可以防止发生这种情况。 负载开关接地连接到电路板外壳处的机箱、
- 第一个阻塞周期的电流波形、问题 B
- 导通时~1.88A
- 问题 B 的电压波形