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[参考译文] LP87564-Q1:LP87564-Q1 PGOOD 信号。

Guru**** 2383210 points
Other Parts Discussed in Thread: LP87564-Q1, LP87564Q1EVM
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1383616/lp87564-q1-lp87564-q1-pgood-signal

器件型号:LP87564-Q1
主题中讨论的其他器件: LP87564Q1EVM

工具与软件:

大家好

我们将 LP87564-Q1用于 FPGA 电源、并对 OTP 产品进行原型设计。
PGOOD 寄存器设置为 MASK。

但是、会输出 PGOOD 信号。
输出波形为10us、比正常的 PGOOD 信号短得多。

我认为这个信号在 IC 的内部栅极电路中是个毛刺脉冲。

请告诉我们您的想法。

提前感谢

浩之

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    尊敬的裕之:

    您是否就该问题与 FAE 合作? 您的降压稳压器2波形显示捕获的最大电压是947mV、是否正确?

    谢谢!
    字段中

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    尊敬的 Fleld:

    感谢您的答复。

    实际上、我正在和 TI 日本公司的 FAE 就这个问题进行沟通。
    我连接了 Buck2波形、我还担心高噪声水平。

    但是、我想知道的是为什么屏蔽了 PGOOD 寄存器、但输出了10us 信号。

    谢谢!

    浩之

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    尊敬的裕之:

    好的、我只是想确保这是同一个问题

    您能告诉我您使用的完整可订购器件型号吗? 是否向寄存器发送任何读取/写入操作? 到目前为止、您所执行的过程是什么、器件处于什么状态? 在进行此操作(或启用器件)之前、您可以读取每个寄存器并向我提供这些信息、可能会有所帮助。

    谢谢!
    字段中

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    尊敬的 Fleld:

    我已附加两个文件。
    " LP8756B2_0x111.txt "是订购 OTP 的说明。
    它包含详细器件型号。
    "actual register.txt"是从我们正在考虑的电路板的 PMIC 中读取的寄存器文件。

    感谢您的合作。

    谢谢!

    浩之

    e2e.ti.com/.../Actual-register.txte2e.ti.com/.../LP8756B2_5F00_0x111.txt

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    尊敬的裕之:

    您能告诉我、您是如何达到这一点的吗? 这是启动、关断、启用器件等吗? 在上述部分/流程中、此过程是否发生一次或每次? 您是否正在更改任何寄存器、如果是、发生在什么时间点以及发生什么情况?

    寄存器0x29可能突出显示了一项内容:

    这意味着下面的位将是您的电路板的值1、但在该器件的 OTP 中、该位看起来设置为0、因此我在有关上述有关迄今为止所做的进程或尝试的问题上有点困惑。 请在下方注册:

    您是否可以重试(通过相应地设置掩码)、但将该位设置为0值并通知我结果? 请告诉我您之前在处理此问题时可能已经测试或更改了哪些内容?

    谢谢!
    字段中

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    尊敬的 Fleld-San:

    更新 SoC 固件后、问题可能变得更加明显。
    由于更新了固件、瞬态电流消耗似乎在增加。
    SoC 内核启动、PGOOD 定期置为低电平。
    我们将很快测试寄存器0x29、请稍等一两天。
    将寄存器值从0x12更改为0x00?

    谢谢!

    浩之

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    尊敬的裕之:

    这只是在正常运行期间出现的、此时有负载吗?  

    您是否更改了任何寄存器?如果是、是在什么时候更改?出现了什么?

    假设您提供的寄存器转储是在写入寄存器之后(以及如果)、并且存在相应的掩码。 您可以尝试将值0x02写入该寄存器0x29吗?  

    谢谢!
    字段中

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    尊敬的 Fleld-San:

    是、这会在负载下的正常运行期间发生。

    谢谢!

    浩之

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    尊敬的 Fleld-San:

    我已测试0x29=0x02和0x28=0x00、PGOOD 信号仍有效。

    如果有任何其他寄存器要测试、请告知。

    谢谢!

    浩之

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    尊敬的 Hiroyuki-san:

    字段已移至 TI 的一个新职位。 让我看看这点、明天(7/16)我会回复。

    很抱歉耽误你的时间、

    Matt

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    尊敬的 Hiroyuki-san:

    您能否在示波器捕获中捕获输出轨和 PGOOD 信号? 最好查看是否有任何噪声可能导致触发 PGOOD。

    此致、

    Matt

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    尊敬的 Matt-San:

    请参阅上一篇文章。
    我捕获 BUCK2和 PGOOD 信号、
    这个波形看起来有噪声。

    我认为 PGOOD 之所以置为有效、是因为已超过过压阈值。

    但是、即使我将 PG_SEL 掩码为0h、该信号仍然出现、
    因此、这对我来说毫无意义。

    如果您可以解释一下即使在 PG_SEL 被屏蔽时信号出现的机制。

    此致、

    浩之

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    尊敬的 Hiroyuki-san:

    您能告诉我使用该屏蔽位选择了哪个寄存器吗? 我明天会更深入地探讨这一点-我认为屏蔽位可能会影响 INT 引脚、但我需要对此进行更多研究以确保。

    谢谢!

    Matt

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    尊敬的 Mattsan:

    我向 TI 日本 FAE 询问了寄存器掩码设置、并且做得很仔细。

    0x28 = 0x00   

    FAE 表示、在此设置下将屏蔽 PDOOD、不输出信号。

    此致、

    浩之

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    尊敬的裕之:

    在写入寄存器掩码设置后、是否也已清除 PGOOD_FLT 寄存器?

    此致、

    Matt

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    尊敬的 Matt-San:

    当前 OTP 为0x23=0x55、0x24=0x55。 该寄存器设置不会锁存中断。
    因此、无需清除 GOOD_FLT 寄存器。

    此致、

    浩之

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    尊敬的裕之:

    让我邀请团队中的其他一些工程师、看看他们是否能帮助理解你们所描述的内容。 我很抱歉耽误了时间、希望在星期一答复建议的后续步骤。

    此致、

    Matt

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    尊敬的 Hiroyuki-san:

    我正在查看0x16寄存器的值-我想我可能建议对此寄存器进行一些更改、以查看它是否会影响行为。

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    尊敬的 Matt-San:

    对于寄存器0x16h 是否有任何特定的指令?

    当前 OTP 寄存器设置为0x16 = 0x14。

    在我看来、0x16是用于设置 GPIO 延迟步长的寄存器、与 PGOOD 无关。

    此致、

    浩之

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    您好、Hiroyuki San、  

    很抱歉、Matt 目前不在办公室、直至7月29日星期一。
    他或我会尝试回到你的时候。  
    感谢您的耐心。

    此致、
    Sarah

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    大家好、Sarah - San 和 Matt - San、

    我希望今天的分析结果可以提供一些线索。

    我将产品的 OTP 加载到 LP87564Q1EVM 中、然后 PGOOD 状态被锁存。
    PGOOD 似乎始终有效、因为即使在清除它后它也会立即锁存。
    EVM 上的负载为零。

    我希望您仔细重新检查我之前发送给 Fleld 的 OTO"actual register.txt"。

    此致、

    浩之

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    大家好、Sarah - San 和 Matt - San、

    进一步的实验结果:
    使用 LP87564Q1EVM GUI、我将 OUT1的输出电压从850mV 更改为855mV、
    并对 PGOOD 进行了置位。
    这个器件是否真的那么敏感?

     波形:
    5mV 的变化无法在200mV/div 条件下测量。

    此致、

    浩之

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    尊敬的 Hiroyuki-san:

    感谢您提供自己的实验结果、这肯定是意料之外的行为。  

    除了 Field 和 FAE 已经提到的外、我不会立即看到任何寄存器设置问题。
    但是、让我看看我能否在最终复制此设置以进一步测试和解决问题。  
    我会向您反馈我的发现。  

    此致、
    Sarah

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    大家好、 Sarah - San 和 Matt - San、

    测试是否正在进行?
    请告知我们状态。

    此致、

    浩之

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    尊敬的 Hiroyuki-san:  

    很抱歉延迟、收到手头的样品所需的时间比预期要长。 测试将立即开始、我会让您知道我找到的内容。  
    很抱歉这么久了。

    此致、  
    Sarah

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    您好、Hiroyuki San、  

    抱歉、我们仍在进行最后的测试、正在等待焊接作业、明天我会尽力与您联系。

    再说一次、很抱歉 耽误了长时间。

    此致!  
    Sarah

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    尊敬的  Sarah - San:

    我们公司将于8月9日至8月18日暑假。
    很抱歉在此期间未能与您联系。

    此致、

    浩之

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    尊敬的 Hiroyuki-san:

    到目前为止、我们做了一项简单的检查、以查看 PG_SEL 屏蔽选项是否适用于 EVM、我们发现当 Buck2 PG2_SEL = 0时、PGOOD 引脚未被 Buck2 PGOOD 故障拉低。 这表明掩码设置正在工作。

    这是我们运行测试之前 GUI 的样子。 我们为所有降压转换器屏蔽了 PGOOD:  

    我想指出的一点是、只要其中一个降压稳压器报告 PGOOD、顶部的"电源正常"系统标志就会同时显示标志和锁存位的1'b。 这是正常现象、不表示存在 PGOOD 问题。 设置该标志位以指示 PMIC 的输出功率当前处于稳压范围内。 当降压转换器发生问题时、将显示中断位。

    即使屏蔽了 PGOOD、您也会在 GUI 顶部看到"Power Good (电源正常)"的1'b。

    我仍想尝试并确认、当为 BUCK2屏蔽 PGOOD 时、不应专门指定过压触发 PGOOD 变为低电平、但到目前为止、我们的测试显示、屏蔽位应该会阻止 PGOOD 变为低电平。

    此致、

    James

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    尊敬的  Hiroyuki-san:

    您是否也能在此处分享您的原理图?

    PGOOD 的上拉源是什么?

    此致、

    James

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    尊敬的 James-San:

    感谢您这么快完成测试。
    是否存在 PGOOD 未被拉至低电平的波形?
    是一个大约10us 的短脉冲。
    请在触发器设置为正常或单个时观察。

    这是 PGOOD 上拉电路的摘录。
    这是机密信息、因此我无法向您展示全部信息。
    PGOOD 被上拉至 CPU 的 VDD (+3.4V)。

    此致、

    浩之

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    尊敬的 James-San:

    我再确认一件事。
    还请在 GUI PG SEL 设置为"3h =电源正常阈值电压和电流限制"时观察 PGOOD 信号。

    此致、

    浩之

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    尊敬的 Hiroyuki-san:

    目前正在研究这种范围捕获。

    该线程前面提到了寄存器0x29。 您是否已经测试了设置寄存器0x29位5 = 1'b? 这会将 PGOOD 去抖延迟设置为1-11ms、而不是4-8us。

    如果您的 PGOOD 因 Buck2上的周期性噪声而被拉至低电平、则较长的去抖时间可能足以忽略噪声尖峰、因此如果您尚未更改该位、请尝试更改该位、并告诉我这是否有任何差异。

    如果我可以获得有和没有屏蔽位的 PGOOD 测试的良好图像、我会在后续回复中发布。

    此致、

    James

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    尊敬的 Hiroyuki-san:

    这里是我看到的一些 PGOOD 行为示波器捕获。 很难在终端产生与此完全相同的噪声行为、因此我不得不稳定地缩短 FB 路径、以创建不稳定的 Buck2输出。

    1) 1)不屏蔽 PGOOD、仅监控 PG 阈值(过压和欠压)

    2) 2) PGOOD 未屏蔽、正在监控 PG 阈值和电流限制(过压和欠压)

    3) 3)在所有 PG_SEL 寄存器中屏蔽 PGOOD、PG 仍设置为过压和欠压、但预期是 PGOOD 即使在短路事件期间也会保持高电平。

    此致、

    James

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    尊敬的 James-San:

    感谢您报告验证结果。
    我不确定寄存器0x29、所以我再试一次。

    哦、测试板的寄存器设置是我之前发送给 Fleld-San 的 OTP 文件吗?

    如果测试板上没有负载、通过我们的 OTP 设置、输出电压为850mV、这种现象不太可能出现、那么您能否在500mV 时测试其中一个输出?
    然后、将示波器设置为单个触发器、并观察测试板一段时间。
    不用急冲测试这些寄存器、您可以在我对寄存器0x29的测试完成后进行测试。

    此致、

    浩之

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    尊敬的 James-San:

    我今天继续测试、但无法重现 PGOOD Low。
    如果您有时间、请测试我上一篇文章的内容。

    此致、

    浩之

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    尊敬的 Hiroyuki-san:

    我上面运行的实验是使用您发送到现场的 OTP 完成的。

    [报价 userid="612096" url="~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1383616/lp87564-q1-lp87564-q1-pgood-signal/5348766 #5348766"]如果测试板上没有负载、且我们的 OTP 设置为输出电压为850mV、这种现象不太可能出现、那么您能否在500mV 下测试其中一个 OUTS?

    我只是想澄清一下、您是指500 mA 应向 Buck2 OUT 施加负载、然后应监控 PGOOD 以查看在 PG_SEL 设置为屏蔽时是否将其拉至低电平?

    此致、

    James

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    尊敬的 James-San:

    很抱歉这么晚才回复。

    将 Buck1输出电压设置为500mV 并监控 PGOOD。

    应在空载的情况下运行测试。

    根据我过去的经验、我发现 PMIC 在空载时输出不稳定。

    此致、

    浩之

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    尊敬的 Hiroyuki-san:

    感谢您的澄清。 我们可以仔细检查此操作点、并告诉您我们可以找到什么。

    此致、

    James

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    尊敬的 Hiroyuki-san:  

    即使在如前所述、在 Buck1输出电压设置为500mV 的情况下运行时、我们仍然没有看到任何 PGOOD 低信号。

    PGOOD 信号保持高电平且 未被触发:

    此致、  
    Sarah

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    尊敬的 Sarah - San:

    感谢您测试各种组件。
    由于贵公司不会出现此问题、我们将检查我们的测试环境
    是否有噪声源。

    我将暂时关闭此论坛、并告诉您我是否有任何新发现。