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器件型号：TPS61158 工具与软件：
我们正在探索使用德州仪器(TI) PN TPS61158DRVR 作为我们已投入生产的一种设计的替代来源。 我们使用 TPS61158构建了原型、通过功能测试仪运行原型、并发现新的 TPS61158器件在测试过程中被大多数(但不是全部)测试仪损坏。 我们有一个测试仪、其中电路板通过测试且 TPS61158按预期运行而不会损坏、但在另一个测试仪重新测试先前通过的同一测试板会导致 TPS61158器件损坏。 所有测试仪仍然正确测试并通过安装了原始背光驱动器 IC 的板、而不会损坏板。 我们怀疑我们将 TPS61158集成到设计中的方式一定存在设计错误、从而允许特定测试仪上的基本正常运行(可能是由于测试仪硬件中的容差)。 损坏的 TPS61158元件的引脚 LX 和 VOUT 短接。
该测试仪向背光驱动器 IC 施加1.5kOhm 电阻负载、并使用100%占空比控制信号驱动背光驱动器 IC。 下面经过编辑的原理图片段显示了我们是如何在产品内设计 TPS61158的、测试仪或测试板本身在测试过程中提供的精选网络电压、以及测试仪是如何施加1.5kOhm 负载的。 在网络 BKLEDPWM 上施加100%占空比信号、并被驱动至与 VIN 电压相同的电压电平(即+3.15V)。 请注意、TPS61158 LX 引脚被 U12原理图符号标记为 SW。
我们目前采用的电路设计是否存在任何错误、当尝试在100%占空比下驱动1.5k Ω 负载时、会损坏 TPS61158器件？ 什么会导致引脚 Lx 和 VOUT 短路？
