工具与软件:
1.在测试 bq77216时、我们观察到了以下 OT 错误条件(多次测试) :
A) 当电阻降至1525R 以下时、COUT 和 DOUT 均变为高电平(7.23V)
B) 当电阻上升到1950R 以上时、COUT 和 DOUT 均变为低电平但是、数据表中给出的迟滞是4186R 和3530R。 请确认是否 正确。3.内部上拉电阻器(20K)的电压是多少?
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1.在测试 bq77216时、我们观察到了以下 OT 错误条件(多次测试) :
A) 当电阻降至1525R 以下时、COUT 和 DOUT 均变为高电平(7.23V)
B) 当电阻上升到1950R 以上时、COUT 和 DOUT 均变为低电平但是、数据表中给出的迟滞是4186R 和3530R。 请确认是否 正确。3.内部上拉电阻器(20K)的电压是多少?
尊敬的 Luis:
1.在实验过程中断开 DMM 的连接,直至触发点达到两个事件的触发点(低到高和高到低)。 一旦达到触发点、我就关闭了电源并连接了 DMM。
2.似乎还有温度方面的迟滞。 对于温度、给出的-10°C 对应于 BQ77216 EVM 中使用的 NTC (103AT)的数据表中给出的1950R (73°C)、发现该值适用于具有83°C OT 的器件(我们的器件)
3.这似乎4186R 对应于 83°C (-10°C 滞后)的设备与 OT 的62°C ,而不是设备与 OT 的52°C。 由于此数据表很常见、我认为迟滞仅适用于62°C 最小 OT 的器件。 附加了片段以供参考。


