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[参考译文] BQ40Z80：学习模式硬件设置

admin
Guru**** 2539500 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ40Z80

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1410386/bq40z80-learning-mode-hardware-setup

器件型号：BQ40Z80

工具与软件：

嗨、

我已经使用 bq40z80构建了定制 PCB、并尝试成功执行学习模式。
在 slua848.pdf 的第4.2节中、我找到了有关如何设置各种功能的非常详细的指南
寄存器、但就硬件配置而言、只有以下情况： 

Discharge the battery until the voltage at the top of stack reaches the Term Voltage.

或者 

Charge Battery to Full

在让芯片固件正常观察过程的同时、实际中该怎么做？

我假设指南期望每个人都使用评估板、因此充电/放电可能为：

1.为 PACK+和 PACK-提供虚拟负载(静态)或 CC/CV 工作台电源

2.如上所述,但在 BAT+和 BMS GND 之间?

3.如上所述,但跳过感应电阻,所以 BAT+和 BAT-?

我可以读取电池组、BATT 和单个电池的电压以及总和单个电池的电流、因此我假设

所有这些测量对学习过程也很重要,因此只有选项1是可行的,对吗?

但第4.2.1节要求 GAUGE_EN = 1、FET_EN=0和 RESET、因此高侧双向开关关断
在学习过程中、这将需要在整个过程中短接 PACK+和 BAT+？

谢谢！

  • 0
    TI__Guru**** 2539500 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Krassi、

    这是正确的选项1是可行的。 我不确定在说第4.2.1节时您所指的是什么文档、但为了完成学习周期、CHG FET 和 DSG FET 应该导通、因此 FET_EN 应等于1。

    此致、

    Adrian

  • 0
    TI__Guru**** 2539500 points
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    尊敬的 Adrian：

    感谢您的答复！ 是的、我的意思是这里的学习指南文档：

    https://www.ti.com/lit/an/slua848/slua848.pdf

    第6页第4.2.1节说明： 

    Before beginning the discharge, turn on the charge and discharge FETs by sending command 0x22, or
by sending the CHG_FET_TOGGLE and DSG_FET_TOGGLE commands until both the CHG and
DSG bits are shown as red in the Bit Registers.

    但是、在制造模式下、FET_EN 位与 CHG_FET_TOGGLE 和 DSG_FET_TOGGLE 位是互斥的。

    此外、这些在复位后会被禁用、因为解封状态和制造模式在收到复位命令时被清除。

    我发现进入学习模式的唯一方法是使用 FET_EN 位+ GAUGE_EN 和 Reset、这有时会使从 PACK+到 BAT+的路径保持开路。

    为了在新的 PCB 上进行电气/功能测试、是否完全跳过学习模式？ 也许像一个标准的黄金文件5S 4000到5000 mA 52狮子细胞?

    谢谢！

    Krassi

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    TI__Guru**** 2539500 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Krassi、

    遗憾的是、 完成学习周期对于确保电量计正确运行非常重要。 但是、根据您需要执行的测试类型、学习周期可能会在之后发生。 您需要进行哪些电气/功能测试？

    此致、

    Adrian

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    TI__Guru**** 2539500 points
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    尊敬的 Adrian：

    在制造测试模式下、MOSFET 的栅极上似乎具有恒定的直流。 在学习周期中似乎也是如此。 不过我想在成功的学习周期之后、芯片会把可变占空比 PWM 馈送到充电的 MOSFET 闸门来控制电流吗？ 是否有办法进行测试？ 或者只是去盲目的信任? 在我看来、很多事情都可能出错了-寄存器值、BMS 芯片焊接不良、MOSFET 接线等

    另一个很难测试的问题是 BMS 的电源开/关如何与我系统中的其他模块协同工作。 在学习周期之前、似乎几乎不可能对其进行测试/尝试。

    谢谢！

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    TI__Guru**** 2539500 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Krassi、

    电量监测计不控制通过电池的充电电流。 这将由充电器 IC 完成。 电量监测计只能控制 FET 的导通或关断。 学习周期的目的是通过执行放电和充电测试来培训电量计报告电池的准确 SOC 读数。 我认为在执行学习周期之前执行您的电气/功能测试是可以的。

    此致、

    Adrian