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[参考译文] BQ25790:质量问题

Guru**** 2511355 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1414866/bq25790-quality-questions

器件型号:BQ25790

工具与软件:

嗨、团队:

1.我认为器件在开关 FET 时有击穿保护、该怎么做?

2.关于规格、是否在每个芯片生产时测试了最小输入电压到最大输出电流(VBUS = 3.6V、Iout = 5A)? 还是由 IC 设计保证?

此致、

Hayashi

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好、Hayashi、

    我们的器件具有各种 保护措施、可防止出现不必要的运行模式、并经过测试、符合建议的运行条件。

    此致、

    Jared Baxter

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jared:

    我知道、但请以 TI 的身份给出一个明确的声明。 客户的质量团队希望通过这些功能来判断器件。  

    我的问题是"防止击穿的机制"和"每个芯片是否都在边界条件下(VBUS = 3.6V、Iout = 5A)进行了特定测试?"。

    此致、

    Hayashi

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    你好、Hayashi、

    在开关和提供全输出功率时、我们的任何充电器都无法在测试仪上进行测试。  仅在工作台上对少数器件进行了全输出功率测试。  实际上、输入功率必须大于输出功率。  因此、要借助4.2V 电池和 VBUS=3.6V 获得5A 输出、充电器需要4.2V*5A/3.6A = 5.83A、高于3.3A 的最大输入电流额定值。  即使在更高的输入电压下、WCSP 封装也会变得过热、从而导致 IC 进入热调节状态、从而限制输出功率、只剩下极少的 VBUS 到 VBAT 配置。

    此致、

    Jeff