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[参考译文] BQ25672EVM:静态电流与数据表不匹配

Guru**** 2386610 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25672, BQ25672EVM, USB2ANY
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1422370/bq25672evm-quiescent-current-not-matching-datasheet

器件型号:BQ25672EVM
主题中讨论的其他器件:BQ25672USB2ANY

工具与软件:

您好!

我发现 IQ_BAT_ON 模式( BQ25672数据表第8页7.5节"电气特性"表中的第一行)的静态电流过高。

测量值为58uA、但数据表显示的典型值为17uA (最大值高达24uA)。

我的设置是 BQ25672EVM、 通过 USB2ANY 适配器连接到 Windows PC 并使用 TICHARGER 网络 GUI。

跳线根据 TICHARGER GUI 主页上的图设置、但移除了 JP30、以防止 I2C LDO/上拉电阻产生额外的2mA 静态电流。

我已经成功测量了表中的几个其他静态数字(IQ_BAT_OFF、ISD_BAT、IQ_VBUS)、它们与数据表相匹配、因此我的硬件设置良好。

我认为我已满足数据表中所述的测试条件。

请有人可以 使用  BQ25672EVM 确认此 IQ_BAT_ON 静态电流的测试条件/寄存器配置?

非常感谢

Rob

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    尊敬的 Rob:

    您能否移除 USB2ANY 并查看这是否会降低 IQ?

    此致、

    Jeff

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    尊敬的 Jeff、我断开了 USB2ANT、它没有改变 IQ。

    Rob

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    尊敬的 Rob:

    这是经过生产测试的规格。  是否所有器件或仅有少数器件具有高 IQ?   

    此致、

    Jeff

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    好的-很好知道。 我已经测试了两块电路板、但由于我一直使用1S 和2S 配置进行测试、它们可能已损坏、而且芯片有时可能配置错误。 我不确定这是否会影响 IQ。

     BQ25672EVM 上也可能是其他器件(例如 FET 二极管泄漏、电阻器等)。

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    尊敬的 Rob:

    我们使用 EVM 来测试该规格。  只要移除跳线30上的分流器来关闭上拉 LDO、Iq 就会是正确的。

    此致、

    Jeff