Thread 中讨论的其他器件： LM2104、 UCC27311A
工具与软件：
参考数据表中的原理图、复制如下：
我将获得非常可预测、非常可重复的意外行为、如下所示：
-首次向 VIN 施加电压时, IC 不会启动, VOUT 保持低电平(也称为冷启动)。 PWM 输入和 ENBL 输入时序会在下面的示波器图中显示。
-接下来,如果 VIN 下降到0V ,然后 VIN 重新打开 应用 、VOUT 将启动、并且系统的行为正常(即热启动)。
- 相反,如果 VIN 下降到0V ,然后 VIN 重新打开 50秒后 、IC 不启动、VOUT 保持低电平、与冷启动相同。
-当电路被"锁定"但 VIN 仍然接通时、如果我把 ENBL 降到低电平、然后再变为高电平、UCC27223不会启动、即它仍然被锁闭。
-当电路被"锁住"但 VIN 仍然接通时、如果我把 PWM 输入降低到低电平、然后再变为高电平、UCC27223不启动、也就是说它仍然被锁闭。
我在示波器上捕获了"冷启动"和"热启动"事件、如下所示。 CH1 (蓝色)= VIN、5V/div。 CH2 (绿色)= VLO、2V/div。 CH3 (红色)= ENBL、2V/div。 CH4 (品红色)= IN (PWM 输入) 2V/div。
无启动映像(冷启动)、2ms/div：
正常启动(热启动)、2ms/div：
启动前、在上述图像中、我看不到 ENBL 或信号的任何差异、从而使我有理由认为这些信号导致了锁定。 我确实注意到 VLO (Ch2)在 VIN 导通之前的热启动期间以稍高的电压(约0.4V)启动、指示 VLO 未完全衰减到零。
有关电路的其他信息：R1 = 4.7欧姆。 C1 = 100nF。 FET 的总栅极电荷为31nC。 我将 C1增加到200nF、但没有任何影响。
在 ENBL 到 GND 之间有一个360K 电阻器。 由于 UCC27223内部具有110k 阻抗、这会将 ENBL 电压限制在大约5V。 我也曾尝试添加一个与我的360k 电阻器并联的100nF 电容器来减缓 ENBL 信号的上升。 这没有任何效果(除了减缓 ENBL 信号的上升)-所述的启动异常情况不变。
C2 = 2.2uF + 100nF (并联)。 CIN = 3 x 10uF (0805)+ 100nF (并联)。
电路中没有 Cout 电容。 我曾尝试添加 Cout (.1uF 陶瓷、100uF 电解)、但在启动时得到相同的结果。
在我看来、UCC27223中有一些内部电路不喜欢启动排序、或者正在学习有关电路的知识。 该器件首次启动失败、但如果电源循环、同时此信息保留在 UCC27223内部(在40秒的时间窗口内)、UCC27223将允许在电源循环时输出开启。
通过导通与16V 电池串联的 PFET 来施加 VIN 电源。 如果我改为使用相对缓慢斜升的台式电源(20ms) 作为电源、则不管 UCC27223关闭多长时间、绝不会发生锁定。
缓慢打开 PFET 可能是不可行的。 然而、我可以将 PFET 打开10ms、关闭100mS、然后重新开启(或类似的东西)作为权变措施。 但是、我不想使用这个"技巧"、直到我了解问题的根本原因。
