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工具与软件:
您好!
正如标题所述、我将 bq4050用于4S BMS 应用。 该电路基本上只是数据表上所示应用示例的副本。 在测试期间、我们需要手动开启/关闭充电和放电 FET。 我们意识到、在 手动模式下(FETEN = 0)、放电 FET 关断且 VBAT > 16V 时、充电 FET 不能手动导通。 当发送命令0x001F 时、bq4050会确认命令并更改内部标志以显示充电 FET 导通(CHGEN = 1)、但实际上、充电 FET 在物理上保持关断状态。
这是 bq4050 IC 中的错误吗? 这是否会影响 BMS 的安全功能(例如、为确保安全而禁用充电后重新启用充电)。
注意:
1.在标志显示充电 FET 开启(CHGEN=1)但实际上其物理关闭的情况下、如果我们启用放电 FET (Mac 命令= 0x0020)、充电 FET 不会物理导通。
2.关闭 CHG FET 总是能够在任何情况下正常工作。
您好!
您能否发送显示此行为的日志文件? 我需要检查其他寄存器以确切地查看正在发生什么情况。
此致、
Adrian
您好!
感谢您的答复。 查找随附的日志文件。 从日志中可以看出、我们执行的顺序如下:
1) FET_EN = 1
器件充电
2) FET_EN = 0
器件停止充电
3) 3)设置0x001F、CHG_TEST=1
器件无法开始充电
4) 4)设置0x0020、DSG_TEST=1
器件开始充电
5) 5)设置0x0020、DSG_TEST=0
器件继续充电
6) 6)设置0x001F、CHG_TEST=0
器件停止充电
e2e.ti.com/.../3364.bq4050_5F00_chgfet_5F00_problem_5F00_2024_2D00_12.log
Darren、您好!
最重要的是查看 Operation Status A 寄存器以及位1和位2 ([DSG]和[CHG])、这些位会指示 FET 的状态。 我看到的问题是、当 CHG FET 导通且 DSG FET 关断时、无法进行充电。 您能将这个板的示意图发送给我吗?
此致、
Adrian
尊敬的 Adrian:
请根据要求查看随附的 BMS 原理图。
Darren、您好!
当我浏览原理图时、您能为我运行测试吗。 我不想关闭 FET、而是想让您将 CUV 保护更改为高电压、可能是3.5V 左右。 将电池放电到3.5V 以下并确保 CUV 保护跳闸、这将导致 DSG FET 关断、但使 CHG FET 保持导通状态。 现在、看看您是否可以让充电电流通过电池。 要运行该测试、必须将 FET_EN 设置为1。
此致、
Adrian
尊敬的 Adrian:
我刚刚按照要求进行了测试:
-将 CUV 设置为3600mV
-将 CUV 恢复电压设置为3900mV
-设置 FETEN = 1 (自动 FET 控制)
放电至截止频率、结果如下:
DSG=0、XDSG=1、SS=1、CHG=1
我应用了充电、电池可以正常充电。
事实上,说实话,我们从来没有这个问题在现场:当电池达到放电截止点,它总是可以充电。
Darren、您好!
听起来不错。 我查看了原理图、看上去也不错。 理想情况下、当电流主动流过电池时、不应使用切换 FET 命令。
此致、
Adrian