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[参考译文] TPS56C231:输出正常前、电源正常激活

Guru**** 2387830 points
Other Parts Discussed in Thread: TPS56C231, TPS56C231EVM
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1459188/tps56c231-powergood-active-before-output-ok

器件型号:TPS56C231

工具与软件:

您好!

我使用 TPS56C231作为带有其他电压电源的 PCB 上的0V85驱动器。 我有以下电源排序:...->5V_REG ->0V85 ->0V9 ->...

0V9电源通过 TPS56C231 (PG_0V85)的 PG 信号激活

测量结果表明、在0V85导通之前 PG_0V85会出现一个短脉冲:

这会导致短时间启用0V9、这是有问题的。

PG_0V85在10k 至5VREG 范围内被拉至高电平:

除了该上拉和与0V9驱动器输入的连接、PG0V85不连接到任何其他位置。

我可以使用评估板 TPS56C231EVM 重现此行为。

我已通过10k 将 PG 连接到 Vin。

这显示了 PG 上的小脉冲、但事实并非如此。

在将 PG 拉高至内部 TPS56C231EVM 电压 VREG5的原始电路中、不会发生该脉冲:

我的简历:

  • 电源正常输出被拉至在启用 TPS56C231之前开启的电压-> PG 信号上有故障短路脉冲
  • 电源正常 输出被拉至内部 TPS56C231 VREG5 ->预期行为(无脉冲)

这是已知问题吗? 或者我是唯一可以观察到这种脉冲的人吗? 在启动期间是否有一段时间内 PG 输出未定义? 是否必须将 PG 连接到 VREG5?

非常感谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    似乎有一些干扰导致 PGOOD 最初在短时间内置位。 此干扰也可能由 EN 信号、Vin 信号等引起 这些信号是如何提供的? 您能否同时为 VIN、Vout、EN、PG 和 VREG 提供更多波形、以查看这种干扰是如何引起的? TI 建议将10k Ω 上拉电阻器上拉至 VREG5。 您还可以尝试降低上电序列的压摆率吗? 减慢启动速度可以使信号平滑并降低干扰风险。

    谢谢!

    Calan

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    尊敬的 Calan:

    感谢您的答复。

    信号的提供方式如下:

    • VIN:LM73606RNPT 电压输出(5V)
    • EN:LM73606RNPT 的电源正常输出、通过10k 上拉至 Vin

    我测量了信号、您可以在下面看到这些信号:

    Vin、EN、PG、Vout:

    Vin、VREG、PG、Vout:

    除了 PG 上的干扰、我看不到任何意外的细节。 Vout 的上升时间也在预期范围内。 您是否看到任何异常?

    此外、我还发现、如果电压电源相当快地关闭然后再次打开(在10秒内)、则不会发生 PG 干扰。 仅当器件断电超过大约30秒时才会发生这种情况。 这可以在我的器件和评估板上观察到。

    在下一步中、我将增加软启动时间。

    此致、

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    更新了:将软启动时间从4.7ms 加倍到9.4ms (额外增加了47nF)并没有改变干扰:

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    您好!

    感谢您分享这些波形。 您能否分享输入电压、输出电压、FSW、输出电流等完整条件? 另外、是否在任何极端环境温度下进行了测试?

    您能否共享完整原理图? 您 提到过、评估板的原理图很好、因为这也会出现在 EVM 上。

    谢谢!

    Calan

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    尊敬的 Calan:

    请参阅修改后的评估板原理图(修改后的元件如下所列):

    • R3连接到 Vin、而不是连接到 VREG5
    • C7 = 200nF
    • R4 = 160k Ω
    • R5 = 20k Ω
    • Cout (C11..C16)= 200uF
    • VIN = 5V
    • VOUT = 0.85V
    • Fsw = 800kHz
    • Iout = 0A (开环)
    • TSS = 21ms

    在 EVM 上、我未施加任何负载、并且发生了干扰。

    我在室温(20..25°C)下完成了所有测试。

    进行此修改后、我可能会产生以下 PG 干扰(与初始 POST 中的图相同):

    您能否再现侧面的干扰?

    (我的设计仅在 C7 [我的设计为47nF]和负载 Zinq Ultrascale+ FPGA XCZU4EV-1SFVC784E 中有所不同)

    有关更多详细信息或说明、我很乐意为您提供帮助。

    非常感谢。

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    您好!

    感谢您提供这些信息。 以下是我对此的反馈:

    • R3连接到 Vin 而不是 VREG5 - 修改
    • C7 = 200nF - 修改
    • R4 = 160k Ω-正常
    • R5 = 20k Ω-正常
    • Cout (C11..C16)= 200uF -正常、确保有效 Cout 保持在100uF 以上
    • VIN = 5V -正常
    • VOUT = 0.85V -正常
    • Fsw = 800kHz—正常
    • Iout = 0A (开环)-良好
    • TSS = 21ms -软启动需要比这更快

    总体而言、我看到的主要潜在问题是将 PGOOD 连接到 VIN。 通常、我在 TPS56C231原理图中没有看到这一点。 通常、最佳方法是通过10k Ω 电阻器将其连接到 VREG5。 我认为、这是 PGOOD 中出现干扰的唯一原因。 大多数器件的元件和 BOM 看起来正常、似乎与此无关。 请将10k Ω 的 PGOOD 连接到 VREG、并将 SS 电容器调整为0.047uF。 Vin、Vout 和 FSW 条件看起来正常。

    此致!

    Calan

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    尊敬的 Calan:

    感谢您解决此问题。 将 PGOOD 拉至 VREG5可解决干扰问题。

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    您好、

    我很高兴这解决了这个问题。 我现在要结束该主题。

    如果有任何其他问题、请回复此主题或打开新主题、我将很乐意提供帮助。

    谢谢!

    Calan