[参考译文] BQ40Z50-R2：化合物 CUV 和 CHGC 故障期间的砖包

尊敬的 Jeff：

我认为唯一的解决办法是将 CHGC:延迟延长到足够长的时间,以允许电荷的变化。 关于 UNSEAL、我认为在现场进行 UNSEAL 可能会带来安全风险、同时也为主机意外更改数据闪存值打开了大门。 这就是我们不建议在现场执行此操作的原因。

此致、

Anthony

您好、 Anthony -再次感谢您对本主题的支持；我非常感谢您的指导和耐心。  我对在现场解封包装也有类似的顾虑—感谢您分享您的反馈；我赞同您的意见。

我进一步研究了该问题、但在正常情况下、我们的设计似乎无论如何都无法触发 OCC 故障。 我们的 OCC1和 OCC2阈值分别设置为6500和8000 mA；但是、我们的充电器 IC (BQ25798)的最大充电电流仅为5000 mA。  OCC 故障发生必须存在一些主要的硬件问题、并且 此处所述的临界情况 无关紧要。

同样、我们的设计也无法触发 PCHGC 故障。  预充电启动电压设置为2500mV；但是、BQ25798 本身具有   接近3000mV 的预充电启动电压、正如我们设计中配置的那样。 因此、BQ25798会 以足够的裕量自动将预充电电流降低至 PCHG 阈值以下、 并且 不依赖于我们的主机软件及时做出反应。

因此、OCC 或 PCHGC 故障的实际可能性；唯一的问题是可能的 CHGC 故障。 我同意、将 CHGC 延迟设置得比主机软件反应时间更长是合理的；然而、如果主机软件发生故障、我们应假设后者是无限的。

我认为、我们在这里可以做出的一个妥协是、使用我们之前讨论过的正 CHGC 恢复阈值、但将 CHGC 恢复延迟设置为高得多的值(例如60秒)。 这样、监测计可以从复合 CUV 和 CHGC 故障中恢复；但是、重试周期要长得多、并且电池不会重复面临如此快的充电电流过大问题。 如果您有任何疑问、请告诉我。

我现在的最后一个问题是、了解如果 OCC 和 CHGC 故障同时发生、预期行为是什么？ 监测计是等待两个故障的恢复标准得到满足、还是一个故障 优先于另一个故障？

在 我们的设计中、OCC1和 CHGC (RT)阈值相同(6500 mA)、但延迟分别为6秒和3秒。 如果我们的充电器 IC 确实以某种方式将6500 mA 驱动到电池中、那么 CHGC 故障会首先发生；因此、根据我们的配置、不可能发生 OCC 故障。 如果我误解了、请告诉我。

大家好、 Anthony—还有一个问题、我 注意到 TRM 第40页上的这句话：

bq40z50-R2器件在退出关断模式时会经历完全复位、这意味着该器件将重新初始化。

我看到  ShutdownMode 命令(0x0010)在电池组处于密封状态时可用。 作为替代权变措施、我们的主机软件可以简单地发送此命令以在 DSG = CHG = 0的长时间内关闭电量监测计吗？ 客户移除并插入充电器后、电量监测计似乎会复位、就像我们发送了   DeviceReset 命令(0x0041)一样。

我通过 将 VC1–4降低 到 CUV 阈值以下来测试此假设、以便电量监测计发出 CUV 故障信号、然后发送 关断模式 命令。 当电量监测计保持关断模式时、我 将 VC1–4增加至 高于 CUV 阈值、但低于 CUV 恢复阈值。 为了实现本实验的目的、我将 CUV 恢复阈值设置为不切实际的高值。

然后、我短暂地施加了高于充电器当前阈值但低于 CUV 恢复阈值的电压。 电量监测计按预期重新上电、并且 CUV 故障已清除。

这表明、 ShutdownMode 命令后跟充电器拔下/插拔周期、可以   通过与 DeviceReset 命令相同的方式清除故障。 您能否确认这是否正确、以及它是否可以作为解决 这一"鸡蛋"问题的可行软件解决方案？

尊敬的 Jeff：

Unknown 说：

我认为我们可以在这里做出的一个妥协是使用我们之前讨论过的正 CGC 恢复阈值、但将 CGC 恢复延迟设置为更高的值(例如60秒)。 这样、监测计可以从复合 CUV 和 CHGC 故障中恢复；但是、重试周期要长得多、并且电池不会重复面临如此快的充电电流过大问题。 如果您有任何疑虑、请告诉我。

我在这里与大家一致、我认为这可能是解决此类问题的切实可行的解决办法。 我建议对其进行测试以确认其有效性。

Unknown 说：

我目前的最后一个问题是要了解如果 OCC 和 CGC 两个故障同时发生、预期行为是什么？ 监测计是等待两个故障的恢复标准都得到满足、还是一个故障 优先于另一个故障？

由于 OCC 和 CHGC 都是固件保护、因此它们之间没有优先级。 如果这两个 FET 同时触发、则不管 CHG FET 如何打开、XCHG 位都将置位。 为了使测量仪表清除 XCHG 位、需要满足两个保护的恢复条件才能再次闭合 FET。 这种想法可应用于同时触发并影响同一 FET 的任何固件保护。

Unknown 说：

在 我们的设计中、OCC1和 CGC (RT)阈值相同(6500 mA)、但延迟分别为6秒和3秒。 如果我们的充电器 IC 确实以某种方式将6500 mA 驱动到电池中、那么 CHGC 故障会首先发生；因此、根据我们的配置、不可能发生 OCC 故障。 如果我误解了,请告诉我。[/报价]

您在这里是正确的。 如果首先触发 CHGC 保护、则无法触发 OCC 保护、因为 FET 现在已打开、并且无法访问 OCC 依赖的检测电阻。  

此致、

Anthony

您好、 Anthony—感谢您的反馈；我赞同您的意见。 得益于您过去几周的慷慨支持、我觉得我 非常擅长管理电量监测计配置。

我认为现在的最后一个问题是 、  充电器拔下/插拔之后的 ShutdownMode 命令(0x0010   )是否可以有效地充当 DeviceReset 命令(0x0041) 、以便按照我的快速测试表明的那样清除任何此类"鸡肉和鸡蛋"化合物故障。

对于 DSG = CHG = 0且持续时间较长的情况、与使用谨慎选择的 golden 文件参数尝试针对任何一种情况进行保护相比、这种通用权变措施更具吸引力。