Other Parts Discussed in Thread: TPS25751, TPS25751EVM
工具与软件：
大家好、团队成员：
我已经针对 Ellisys "USB Explorer 350"运行 TPS25751器件。 我在 TD 4.5.4 DRP 连接 DRP 测试上失败。 失败原因为"在 Vbus 进入 vSafe0V 之后和 tVbusON 到期之前、Put 必须为 Vbus 供电"。
我们想知道哪种固件配置将直接影响 TD 4.5.4的测试结果？ 您能帮助我们通过此测试吗？
谢谢。
尊敬的 Wei-Ting：
感谢您联系我们！
能否提供关于 DRP 应用程序的更多信息？ 系统中是否有电池充电器？
使用哪个电源路径来提供5V 电压(PP5V 或 PPHV)？
USB Type C 规范下面指定了时序要求：
此致、
Aya Khedr
尊敬的 Aya：
在使用 ACT 修改 PD 固件配置后、我们重新测试了 TD 4.5.4并获得了最新的测试结果。 似乎两个主要问题是 tVbusOn 超时(大于275ms)和 Vbus 启用时间过长。
想问您是否可以帮助我们修改 tVbusON 的时间并启用 VBUS？ 因为 ACT 不会为我们打开这样的选项来改变它们。
我提供了 下面用于生成固件的配置。 如果可能、请帮助我们确认我们的设置中是否存在与此测试项目相关的任何错误。
{
"questionnaire": {
"device": "TPS25751",
"toolBuildVersion": "1.0.2",
"answers": [
null,
0,
0,
3,
1,
1,
2,
0,
1,
0,
0,
1,
0,
0,
8.4,
3.008,
0,
0,
0
],
"vendorId": "2CC2",
"productId": "002E",
"version": "1.0.0.2"
},
"configuration": {
"data": {
"selected_ace": [
{
"register": 6,
"data": [
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0
]
},
{
"register": 22,
"data": [
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
3
]
},
{
"register": 40,
"data": [
2,
8,
47,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0
]
},
{
"register": 41,
"data": [
209,
48,
144,
0
]
},
{
"register": 50,
"data": [
1,
168,
42,
150,
144,
1,
37,
44,
209,
2,
0,
44,
177,
4,
0,
244,
65,
6,
0,
244,
65,
6,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0
]
},
{
"register": 51,
"data": [
4,
44,
145,
1,
16,
44,
209,
2,
0,
44,
177,
4,
0,
44,
65,
6,
0,
69,
65,
6,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0
]
},
{
"register": 55,
"data": [
119,
192,
18,
15,
144,
145,
225,
1,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0
]
},
{
"register": 66,
"data": [
26,
12,
10,
0
]
},
{
"register": 92,
"data": [
15,
4,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
4,
0,
0,
0,
4,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
4,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
75,
73,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0
]
},
{
"register": 112,
"data": [
0
]
},
{
"register": 119,
"data": [
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
127,
0
]
},
{
"register": 122,
"data": [
0,
0,
0,
0
]
},
{
"register": 123,
"data": [
0,
2,
255,
255,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0
]
},
{
"register": 125,
"data": [
255,
255,
0,
0,
255,
255,
255,
255,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0
]
},
{
"register": 126,
"data": [
0,
0,
0,
0,
0,
0,
1,
0,
15,
0,
60,
0,
0,
0
]
},
{
"register": 152,
"data": [
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0,
0
]
}
]
}
}
}
由于目前的项目即将批量生产、请尽快提供援助。 谢谢你。
尊敬的 Wei-Ting：
1-我查看了提供的日志并对 json 进行了一些更改(请参阅附件)、应该通过与电池功能和电池状态响应相关的两项测试 TEST.PROT.PORT3.1 PD 和 TEST.PROT.PORT3.3 PD。
请参阅以下更改：
2-就 VCONN 交换故障而言、 TEST.PROT.SRC.8、PD 我能够使用 TPS25751EVM 并借助该线程上提供的 JSON 和 VIF 进行测试。 该测试在 GRL 和 Ellisys 上均通过(我没有在 LeCroy 上进行测试)。
查看您提供的日志、PD 控制器似乎正在用"接受"消息响应 VCONN 交换消息、这意味着这可能是错误的测试仪问题。
3-最后、我仍分析以下故障、 TD 4.5.4 DRP Connect DRP Test、本周我们将向您提供更多反馈。
e2e.ti.com/.../WeiTing_5F00_12_5F00_30_5F00_24.json
此致、
Aya Khedr
尊敬的 Aya：
TEST.PROT.SRC.8 PD
确认后、我们发现 LeCroy 测试仪确定 VCONN 交换失败的原因是它发送了多条 VCONN_swap 消息、而我们的 PD 器件几乎都在收到它们后响应"Accept"、但我们没有回复最后一条。
请参阅下面我的日志的屏幕截图。 数据包134的 VCONN_swap 消息似乎尚未响应。 经过许多测试、我们仍然失败了。
谢谢。
尊敬的 Wei-Ting：
根据 CTS、如果 UUT 在 PD2模式下返回等待消息(在本例中为)、测试人员应重新发送 VCONN 交换消息、我在 LeCroy 日志中没有看到该消息。 我将在一周结束时分享 GRL 日志以供参考。
您是否能够使用 Ellisys 或 GRL 进行测试？
此致、
Aya Khedr