Thread 中讨论的其他器件： BQ25570、 BQ25504
工具与软件：
您好！
我正在使用 BQ25622进行开发、我有一系列问题。 事实上、我正在开发两种硬件解决方案、但在我们实施之前、我正在开发 BQ25622的 SPICE 仿真、包括其 I2C 接口。 在开发这个仿真的过程中、我已经意识到数据表内的几个区域缺少详细信息。 我希望你能提供帮助。
1.动态电源管理功能主要是"平均"地控制降压转换器 保持 VINDPM 和 IINDPM 的2个设定点的输入电流。 首先、如何测量该输入电流、以及测量和调节该电流的频率如何？ 此外、I2C 更新这些寄存器的频率以及系统对这些寄存器的任何更改采取行动的速度。 最大更新速率是多少？ 我想使用 uController 将 BQ 放入闭环中。 这些离散延时时间的"示例"特性对我的设计至关重要。
2.相关但也不同;在讨论 DPM 的第8.3.4.2节中,第二段内容为"充电电流降至零时",但充电电流不能编程为零,而最小输入电流可以不小于100mA。 (8.6.2.3 范围：100mA、-3200mA (5h-A0h)。 因此、您能否澄清输入电流在达到100mA 后是否进一步向零发展？ 如果是、该情况何时发生。 这非常重要、并且它可能会防止 DPM 将 VBUS 拉至低于其最小阈值(3.7V POORSRC 检测阈值和/或 VBUS-BVAT 的 SLEEPZ)。 无论在哪一种情况下、最后一步都确实发生、即输入电流降至零。 或者这是否仅在触发这些电压阈值时间接发生。
3.如果 VBUS 低于 POORSRC 阈值、这将重新触发适配器重新连接过程、在此处执行 POORSRC 鉴定。 从 POR 开始或通过此中等充电过程 、在做出"良好/不良 SRC"决策之前、施加10mA 电流源的时间长度。 此外、如果鉴定失败、BQ 进入重新鉴定的频率如何？ 在其他 BQ 25X 器件的其他数据表中、我每2分钟读取一次。 但是、在您的论坛上、我每2秒读取一次、并在7次尝试后保持永久失效状态。 在 BQ25622的数据表中、根本未提及此内容。 这对于我的设计来说是至关重要的信息、因为我要设计一台能量收集装置、而 VBUS 是间歇性的、高度可变且不可预测。
4.即使器件 可以在补充模式下运行、器件是否也会通过 POR > POORSRC 认证。 第8.3.10.2.6节-睡眠和不良源码比较器、这有点令人困惑：
'这是一个新的适配器连接、除了 D+/D-检测(如果启用)之外、还将运行不良源鉴定。 VBUS_STAT 和 PG 引脚状态将由第8.3.3节中概述的适配器连接序列确定。
适配器连接过程发生在第8.3.3节之前。
第一个问题是、无论在仅 BAT 模式下运行的状态如何、只要 VBUS 上升、器件是否会执行 POR？ 如果我读取正确、仅当没有电池存在时才会发生 POR 、即 VBUS 崩溃、而 VBAT 低于2.4V (VBAT_UVLOZ)。
其次、如果系统降至补充模式、根据第8.3.2节、REGN 将被禁用、因此、如果 VBUS 降至 POORSRC 阈值3.7V 以下、这是否会触发进入补充模式、以及由于根据第8.3.1节进行了任何重新启用 REGN 的尝试、因此是否会产生220ms 延迟？
我还有其他问题、但现在、我很高兴你能澄清上述问题、希望在我们开始对话后、我能更详细地说明。
祝你一切顺利
Aidan Walton
