主题:TLV320AIC3101中讨论的其他器件
工具/软件:
测试方法:
为了测试 I2C 总线挂起 系统上是否有故障器件、创建了一个 测试场景来访问1个现有器件和1个不存在的器件。
#1。 在正常情况下、波形如下(发送从器件地址和 ACK 后有数据级):
#2. 失败波形如下所示、在向现有器件发送地址后、总线在地址和 ACK 阶段之后保持、如下所示。 它应该是数据阶段、作为上层正常访问。
#3. 它可以复制肯定从1 小时到14小时。
#4. 捕获的4次故障、全部发生在地址阶段后访问现有器件时、作为上捕获的波形。
#5. 使用2个现有器件访问进行测试、到目前为止未重现故障。
分析:
#1。 确实进行了实验、用导线替换串行电阻器、重新制作后断开导线以在任一侧进行探测、AM62x 侧 SCL 为低电平、从侧 SCL 为高电平、至少可以证明从器件没有保持 SCL。
#2. I2C 总线挂起后、I2C1_SYSTEST 寄存器值为0x60、软件检测到繁忙并返回。
#3. 写入 I2C_SYSC[SRST]可以恢复总线、但更容易再次重新生成。