工具/软件:
尊敬的专家
由于定制电路板的 LPDDR4 会出现热问题、因此我们考虑使用“DDR 裕度固件“来比较高温和低温之间的眼图 (T eye)。
以下是一些问题
(1) 我们是否需要在更改 LPDDR4 大小时重新编译测试应用 (AM62X_TEYE_A53_write/read.out)。
(2) 这是一项仔细检查、如果我们使用 UART 引导模式并运行 TEYE 测试程序、那么不需要将此测试应用刷写到任何存储(例如:OSPI)中、不是吗?
这种 UART 引导测试模式显示了一个将应用程序下载到 LPDDR 并直接运行的用例、不是吗?

非常感谢
Gibbs