器件型号: TDA4VL-Q1
在引导加载程序中的软件诊断测试期间、POK(电源正常)欠压检测失败、导致大约 1-3%的器件出现引导故障。 即使 UV 阈值设置为最大值 (0x7F)、POK 诊断模块也无法检测到欠压事件。
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器件型号: TDA4VL-Q1
在引导加载程序中的软件诊断测试期间、POK(电源正常)欠压检测失败、导致大约 1-3%的器件出现引导故障。 即使 UV 阈值设置为最大值 (0x7F)、POK 诊断模块也无法检测到欠压事件。
您好、
根本原因
技术说明:
如 TRM 第 5.2.3.1.3 节(POR 概述)所述、带隙为 POR 模块内的所有 POK 供电。 MCU_PORz 释放后、带隙会生成未修整的电压/电流。 必须通过设置 CTRL_MMR_POR_CTRL[7].TRIM_SEL 来应用特定于器件的修整。
未启用 TRIM:
启用修整时:
为什么只有部分设备出现故障:
由于制造工艺差异、带隙基准因器件而异。 只有在最大阈值下具有明显较低的未修整带隙故障诊断的器件才会出现故障。 启用修整后、所有芯片都使用特定于器件的校准、从而确保精确检测。
见解
1.启用带隙修整(必需)-可参考以下补丁进行代码更改以启用带隙修整。
e2e.ti.com/.../0001_2D00_SDL_2D00_POK_2D00_fix_2D00_POK_2D00_issue.patch
执行以下步骤应用补丁:
cd $RTOS_SDK/SDL/
Git 初始化
Git add。
git commit -m “init commit“
Git am $path_to_patch
重要说明:
2.更新 Pok 净尺寸值(推荐)
SDL 示例使用 127 (0x7F) 和 0x0 等修整值进行测试。 这些是不建议在生产中使用的极端测试值。 对于量产实现、请根据您的系统设计从 TRM 表“POK 阈值电平“中的有效范围中选择修整值: 
重要注意事项:
此致、
Josiitaa