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[FAQ] [参考译文] 【常见问题解答】TDA4VL-Q1:POK 未修整带隙配置问题

Guru**** 2810285 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/processors-group/processors/f/processors-forum/1625422/faq-tda4vl-q1-pok-untrimmed-bandgap-configuration-issue

器件型号: TDA4VL-Q1

在引导加载程序中的软件诊断测试期间、POK(电源正常)欠压检测失败、导致大约 1-3%的器件出现引导故障。 即使 UV 阈值设置为最大值 (0x7F)、POK 诊断模块也无法检测到欠压事件。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、

    根本原因

    • 在系统初始化期间、CTRL_MMR_POR_CTRL 寄存器中未启用 POK 带隙修整值。
    • 寄存器配置问题:
      • 寄存器地址:0x43018000 (CTRL_MMR_POR_CTRL)
      • 电流:位 7(带隙修整启用)= 0(禁用)
      • 预期:位 7 = 1(启用)

    技术说明:

    如 TRM 第 5.2.3.1.3 节(POR 概述)所述、带隙为 POR 模块内的所有 POK 供电。 MCU_PORz 释放后、带隙会生成未修整的电压/电流。 必须通过设置 CTRL_MMR_POR_CTRL[7].TRIM_SEL 来应用特定于器件的修整。

    未启用 TRIM:

    • 未修整的带隙可能具有很高的变化范围。
    • POK 报告的电压高于实际值(例如,当实际值为 1.78V 时测量值为 1.89V)
    • 结果:POK 未能检测到实际欠压情况→UV 检测无法正常工作

    启用修整时:

    • 每个器件都使用出厂编程的电子保险丝修整值(每个芯片具有唯一性)
    • 带隙设置为确切的器件特定基准
    • 所有器件都实现一致、精确的 UV 检测

    为什么只有部分设备出现故障:

    由于制造工艺差异、带隙基准因器件而异。 只有在最大阈值下具有明显较低的未修整带隙故障诊断的器件才会出现故障。 启用修整后、所有芯片都使用特定于器件的校准、从而确保精确检测。

    见解

    1.启用带隙修整(必需)-可参考以下补丁进行代码更改以启用带隙修整。

    e2e.ti.com/.../0001_2D00_SDL_2D00_POK_2D00_fix_2D00_POK_2D00_issue.patch

    执行以下步骤应用补丁:

    cd $RTOS_SDK/SDL/
    Git 初始化
    Git add。
    git commit -m “init commit“
    Git am $path_to_patch

    重要说明:

    • 带隙补丁会修改 SDL 源代码。 由于 SDL 已通过 ASIL-D 认证、因此需要进行重新认证/ Delta 审核
    • 此修复将在 SDK 11.2.1 和更高版本中提供

    2.更新 Pok 净尺寸值(推荐)

    SDL 示例使用 127 (0x7F) 和 0x0 等修整值进行测试。 这些是不建议在生产中使用的极端测试值。 对于量产实现、请根据您的系统设计从 TRM 表“POK 阈值电平“中的有效范围中选择修整值:



     重要注意事项:

    • 并非所有硬件设置都支持将 TRIM 设置为 127 或 0(极端值)
    • 即使出于测试目的、也应使用 TRM“ POK 阈值水平“表中列出的范围内的最大/最小值
    • 在乒乓模式下:修整值 127 运行错误(行为类似于 0x00)-切勿在乒乓模式下使用 127
    • 在静态模式(仅限 UV 或 OV) 下)下:127 可能有效、但不建议使用

    此致、
    Josiitaa