[参考译文] AM263P4：TCMB RBL 日志 — 在下电上电期间持续存在

如果 RBL 出现故障、如何从器件检索故障转储？

在 AM263P TRM 中、它指出“启动时 R5 或 HSM 检测到的任何故障都将导致 WDT（看门狗计时器）在 180 秒后发出 SoC 热复位 从 ROM 的角度来看、就考虑启动流程而言、冷复位和热复位是相同的。“ 日志在热复位后是否会持续存在？ 在这种情况下如何访问它们？

我配置为安全启动模式。

如果 RBL 出现故障、如何从器件检索故障转储？

系统将持续处于该故障状态、直到触发 WDG。 WDG 触发发生在 t=180s 时。 ROM 日志、即可以在 WDG 发出热复位之前的这段时间内获取 TCMB 的故障日志。

我被配置为安全启动模式。

您能告诉我哪个是引导介质、即 OSPI 引导模式、QSPI 引导模式、UART 引导模式等？

在此期间是否使用 JTAG 检索 ROM 故障日志？

尊敬的 Additions：  

是的、可以通过连接调试器、然后获取存储器转储来获取 TCMB 日志。

如果器件处于 HS-SE 模式（在该模式下 — 禁止将 JTAG 连接到 M3_0 或 R5_0)、那么您是否可以在器件在 RBL 发生故障后进入热复位之前连接到调试器并下载日志？  

另外、为了确认在 WDG 触发热复位后、TCMB 中的日志将不再可用？  

另外，为了确认 — 在 WDG 触发热复位后、TCMB 中的日志将不再可用？

在热复位和 POR 后、TCMB 日志将不可用。  

关于 SBL 引导失败时安全器件中的 JTAG 连接、我需要对此进行检查。

您好、Addison、

关于 JTAG 连接、RBL 需要理解 SBL、以使 JTAG 可用于连接调试器。 因此、在 SBL 引导本身出现故障的 HSSE 器件中、这是无法实现的。 您可以对 HSFS 设备执行相同的过程并获取 ROM 日志。

您好、 Addison、

添加到我之前的回复中、如果 RBL 在证书验证之前引导失败、则 JTAG 将被锁定。 但是、如果在此阶段之后发生故障、那么 JTAG 就会被解锁。 这是因为 JTAG 锁定/解锁由 RBL 根据 SBL 标头决定。