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器件型号：PROCESSOR-SDK-AM437X 主题中讨论的其他器件：TIDEP0057、 SYSBIOSSDK-IND-Sitara、 SYSBIOS
你(们)好
我正在测试 BiSS 编码器测试程序(TIDEP0057多协议编码器软件、AM437x IDK 板) 、工作正常。
但 位置数据 每0.5秒没有改变10~15次(biss Communcation cycle：100usec (默认)，且电机正在旋转..)
I'v 更改了通信速度(1、2、5、10 MHz)并更改了读取角度数据周期(80、100、120、170、200 μ s)
我发现 读取角度数据周期(120、170、200微秒)很好。 读取 角度数据周期(80、100 μ s)不好。
-->(80usec 周期测试每 400usec 生成错误、 100usec 周期测试每500ms 生成错误)
然后我更改通信周期100 -> 50秒。 每100微秒读取一次角度。 这很好
我的问题是...
读取角度周期必须大于通信周期？？ 我不理解这个测试结果。
此致
Moonsun
