您好:
我们执行 Agilent 示例中的 DDR SI 测试。
测试结果表明 SRQdiffR 和 SRQdiffF 出现故障。
根据 JEDEC 定义、该值应介于5至10V/ns 之间。 我们的结果略高于5V/ns。
查看 AM335x 的用户手册后、有一些寄存器可以调整 DQS 的压摆率:
1404h DDR_cmd0_ioctrl 第9.3.1.87节
1408h DDR_cmd1_ioctrl 第9.3.1.88节
140Ch DDR_cmd2_ioctrl 第9.3.1.89节
1440h DDR_Data0_ioctrl 第9.3.1.90节
1444h DDR_data1_ioctrl 第9.3.1.91节
(根据数据表、我对所有这些寄存器使用相同的值、只更改压摆率、以及压摆率和输出阻抗。 我们 FW 中的默认值为0x183、我更改为0x83、然后更改为0xE3)
但是、在将寄存器值更改为最高值后、波形没有变化。
如果我们想更改 DQS 的压摆率、通过修改上述寄存器来检查是否足够?
谢谢