*基于 AM3354的系统、NAND 引导(使用 PSP v04.06.00.11)
它们使用 Toshiba NAND、 TC58NVG1S3。
以前没有此类问题、但最近、特定 NAND 器件发生了启动问题。 (没有 S/W H/W 变化。)
误差率约为5%。
症状是系统引导时、UBI 文件系统多次运行"酷刑测试"。
在某些情况下也会发生引导失败。
执行 NAND 交换测试时、发生的问题出在特定 NAND 器件。
它们正在检查 OK NAND 和 NG NAND 器件之间的差异。
在这段时间里,您能不能对 Toshiba NAND 启动时出现的“UBI:Run torture test for PEB”日志消息有任何想法?
我在下面提到了 E2E 帖子、它被锁定、没有答案。
* https://e2e.ti.com/support/embedded/linux/f/354/t/564718
如果您有任何想法、请告诉我。
谢谢、此致、
海登
