[参考译文] SK-AM62-LP：在 AM62X-AM62X 中查找以下外设驱动程序—适用于 MCU-PLUS-SDK 的 MCU+ SDK–RTOS、无 RTOS

此外、ADC 是在 ePWM 模块下吗？

已将查询分配给专家。 请在1天或2天内收到回复。

谢谢！

大家好、陈大宗

DMA：可以从一个内存位置传输到另一个内存位置

以下答案基于 MCU+SDK、而不是 Linux 端。

下面的示例用于通过 DMA 将数据从 DDR 传输到 DDR。

C：\ti\mcu_plus_sdk_am62x_10_00_00_14\examples\drivers\udma\udma_memcpy_interrupt

CRC：CRC 计算

您正在讨论哪种 CRC 计算？

您能否详细说明为什么需要 CRC 计算以及要在何处使用它？

AM62X 器件没有任何内部 ADC 和 RTC 模块。

但是、以下应用手册对于如何在外部连接 ADC 和 RTC 模块很有帮助。

https://www.ti.com/lit/an/slaaej0/slaaej0.pdf?ts = 1732533810208&ref_url=https%253A%252F%252Fwww.google.com%252F

此致、

Anil。

尊敬的 Swargam：

这是循环冗余校验(CRC)。 该选项用于计算 NAND 闪存中的一些数据。 有时、我们需要验证数据在冷复位后是否仍然有效、而 CRC 是我们将使用的检查之一。

谢谢  

Dazong

Timer/lptimer：向上计数、向下计数、中断

您好、 Dazong：

目前在 MCU+SDK 中、我们支持溢出计时器中断。

您只需从 MCU+SDK 配置计时器并生成代码。

这是循环冗余校验(CRC)。 该选项用于计算 NAND 闪存中的一些数据。 有时、我们需要验证数据在冷复位后仍然有效、CRC 是我们将使用的检查之一。[/QUOT]

我假设您在从 NAND 器件读取数据后需要一些数据验证。

AM62P 器件支持 GPMC ELM 模块、该模块可以检测读取的数据中的错误并借助 BCH 方法进行校正。

MCU+SDK 中已支持此功能。

如果您需要有关此主题的更多详细信息、请参阅以下章节。

此致、

Anil。

谢谢 Anil、

不必是 nAND、但 CRC 提供了一种更灵活的方法来验证数据是否正确。 CRC 是否可用？ 或者我们需要制作自己的模型？

谢谢！

Dazong

您好、 Dazong：

GPMC 模块不支持 CRC 验证、用户需要自行实施 CRC 验证。

此致、

Anil。

感谢您的澄清 Anil、

OTP 写入/读取呢？

此致、

Dazong  

您好 、Dazong、

请查看以下路径的 OTP 示例。

C：\ti\mcu_plus_sdk_am62x_10_00_00_14\examples\otp

此致、

Anil。

谢谢 Anil。

为了澄清一下、我们将查看 AM62Lx MPU。  在 RM 中、我看到有 ADC 和 RTC 模块。 您能仔细检查一下是否两者都在板上吗？ 如果是、您能检查 RTC 和 ADC 驱动器位于哪里吗？

谢谢！

Dazong