[参考译文] TMS320C6748：在快速/典型值条件下、在时钟线路的 Vix 处发生故障

你好, 武内正树

感谢您的提问。

帮助我了解您是基于某个故障进行分析、还是您正在考虑这是一个新设计。

Unknown 说：

我们正在对 TMS320C6748EZWT4和 DDR2之间的连接 I/F 进行 SI 分析。

您能否分享有关为仿真建立的连接的其他信息。

此致、

Sreenivasa

尊敬的 Sreenivasa：

很抱歉延迟联系您。

这是我正在考虑的一个新设计。

此致、

武内正树

你好 Masaki Takeuchi,

请参考我从专家处收到的意见：

似乎他们遇到了符合 VIX 的 JEDEC 规格的问题。 我的建议是他们密切检查其电路板上 DQS 布线的情况。 如果 DQS 未作为纯差分对进行布线、并且布线中引入了不对称、则可能会在布线中出现 VIX 违例。

此致、

Sreenivasa

你好,武内正树

谢谢你。

Unknown 说：

例如、是否可以通过在 DSP 的 CK+和 CK-线上插入共模线圈来改进该器件？
此外、是否可以在此行中放置共模线圈？[/QUOT]

您以前是否有添加筛选器的经验？

此致、

Sreenivasa

我之前不知道如何使用共模线圈来缓解 DDR 中的 SI 问题、因此我无法对此进行评论。 在回顾了一些意见之后、我建议他们研究以下各项：  

1. CK+/-布线的差分阻抗是多少？ 即使布线中没有明显的不对称性、差分阻抗也会发生变化。
2. DRAM IBIS 模型中 CK+/-引脚的封装和 Ccomp 电容是多少？
3. DDR IO 电源上的电源噪声是多少？ 过多的电源噪声也可能表现在 SI 问题中

此致、

Sreenivasa

尊敬的 Sreenivasa：

//question1

CK+/-线迹的差分阻抗是什么? 即使布线中没有明显的不对称性、差分阻抗也会发生变化。

//答案

我们已经向您发送了我们在这里进行的研究的结果,正如那里所提到的,驱动程序和内存之间的直接连接导致了 NG 判断。

如果驱动器和存储器直接连接、则接线差分阻抗的变化无关紧要。

换言之、在与接线影响无关的情况下、会发生 Vix 故障。

//问题2

- DRAM IBIS 模型中 CK+/-引脚的封装和 Ccomp 电容是什么?

//答案

当前有问题的 DDR2存储器数据如下所示。

[部件] NT5TU64M16HG (南亚)

[封装模型] nu88a1p80v11_cm_pkg_x16

[制造商]南亚科技股份有限公司

[引脚]     signal_name      model_name     R_pin L_pin C_pin                       

J8     CLK CLKRCV                        468.5m        1.73nH         0.41pF

K8        CLKB CLKRCV                         437.3m         2.08nH         0.33pF

[模型]         CLKRCV_Input_667

c_comp                     1.35pf (typ) 1.33p35pl             (min)              1.38p窝(max)

作为参考、我们还模拟了一个完全不同制造商的 DDR2数据。

DDR2数据如下所示。

即使在这种情况下、Vix NG 也发生了、并没有改善。

[元件]    MT47H64M16NF (Micron)

[封装模型] u88b_84ball_pkg

[制造商] Micron Technology、Inc.

[引脚] signal_name     model_name     R_pin L_pin C_pin                         

J8     CK                      CLKIN              169.5m         1.995nH        0.369pF

K8    CK#                   CLKIN               167.9m         2.073nH        0.360pF

[模型]       CLKIN_533

c_comp                     1.025pF (典型值)            0.975pF (min)            1.075p (max)

//问题3

- DDR IO 电源上的电源噪音是多少？ 过多的电源噪声也可能表现在 SI 问题中

//答案

在此分析中、我们使用 IBIS 中列出的理想电源电压。

因此、我们认为这不应是问题。

此致、

武内正树

你好, 武内正树

请确认客户正在使用的 INIS 型号版本。

此致、

Sreenivasa

尊敬的 Kallikuppa：

客户正在使用的 IBIS 模型为修订版 C
此致、

武内正树

你好, 武内正树

谢谢你。

让我检查并更新。

此致、

Sreenivasa