我使用 AFE7906、但测试模式类似于 JESD204B TX 端与 FPGA 之间的评估。
我想发出测试模式、但除了 PRBS、是否有其他测试模式?
1. PRBS9 (x9+x5+1)。
2. PRBS15 (x15+x14+1)
3. PRBS23 (x23+x18+1)
4. PRBS31 (x31 + x28 + 1)
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尊敬的 Tatsuya:
AFE 还支持以下三种 JESD 测试模式。
要启用其中一种图形、您可以写入 ADC JESD 页面中的寄存器0x109。 如果使用 Latte、则可以使用以下行来启用图形。
### ADC Test Patterns mode=0 # 0 - No Test Pattern # 1 - JESD Short Test Pattern # 2 - Ramp Test Pattern # 4 - Alternating 0,1 device.JESD.ADC_JESD[0].ADC_JESD.ADC_JESD_TEST_PATTERN_CTRL.rx1_jesd_test_sig_gen_mode=mode device.JESD.ADC_JESD[0].ADC_JESD.ADC_JESD_TEST_PATTERN_CTRL.rx2_jesd_test_sig_gen_mode=mode device.JESD.ADC_JESD[1].ADC_JESD.ADC_JESD_TEST_PATTERN_CTRL.rx1_jesd_test_sig_gen_mode=mode device.JESD.ADC_JESD[1].ADC_JESD.ADC_JESD_TEST_PATTERN_CTRL.rx2_jesd_test_sig_gen_mode=mode
此致、
大卫·查帕罗
### ADC 测试模式
>
>MODE=2
>
>= 0 -无测试模式
电路1 - JESD 短路测试模式
>= 2 -斜坡测试模式
># 4 -交替0、1
>
>
>device.JESD.ADC_JESD[0].ADC_JESD.ADC_JESD_TEST_PATD_CTRL.rx1_JESD_TEST_SIG_GEN_MODE=MODE
>device.JESD.ADC_JESD[0].ADC_JESD.ADC_JESD_TEST_PATTERN_CTRL.rx2_JESD_TEST_SIG_GEN_MODE=MODE
>device.JESD.ADC_JESD[1].ADC_JESD.ADC_JESD_TEST_PATH_CTRL.rx1_JESD_TEST_SIG_GEN_MODE=MODE
>device.JESD.ADC_JESD[1].ADC_JESD.ADC_JESD_TEST_PATTERN_CTRL.rx2_JESD_TEST_SIG_GEN_MODE=MODE
sysParams。 LMFSHdRx ="48410"、"48410"、"48410"、"48410"]#ADC JESD
sysParams.jesdTxLaneMux =[4、5、0、1、2、3、6、7]#ADC JESD original [0、1、2、3、4、5、6、7]
#输入在每个位置所需的通道。
#注意,2T 多路复用器在0.5中是不可能的。
如上所述设置 JESD204B ADC-HD 1链路并创建 L-M-F-S 测试模式。
即使我将斜坡测试图形设置为递增1、它也不会变为递增1。
此外、交替0、1不会这样做
在3stx/4stx/5stx/6stx 中输出的格式是什么?
另外、请告诉我如何获取斜坡测试模式。
### ADC 测试模式
模式=2
0 -无测试模式
# 1 - JESD 短测试模式
# 2 -斜坡测试模式
# 4 -交替0、1
device.JESD.ADC_JESD[0].adc_JESD.adc_JESD_TEST_PATH_CTRL.rx1_JESD_TEST_SIG_GEN_MODE=MODE
device.JESD.ADC_JESD[0].adc_JESD.adc_JESD_TEST_PATTERN_CTRL.rx2_JESD_TEST_SIG_GEN_MODE=MODE
device.JESD.ADC_JESD[1].ADC_JESD.ADC_JESD_TEST_PATTERN_CTRL.rx1_JESD_TEST_SIG_GEN_MODE=MODE
device.JESD.ADC_JESD[1].ADC_JESD.ADC_JESD_TEST_PATTERN_CTRL.rx2_JESD_TEST_SIG_GEN_MODE=MODE
在 Latte 源中的插入位置是否有任何限制?
使用此设置时、是否会在3stx/4stx/5stx/6stx 上显示测试模式?